Electrical Properties and Magnetic Field Dependent I-V Characteristics of Nanocrystalline Cobalt Doped Nickel Ferrite

Ghosh, P.; Mitra, P.

Please use this identifier to cite or link to this item: https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/83345

Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item

Title	Electrical Properties and Magnetic Field Dependent I-V Characteristics of Nanocrystalline Cobalt Doped Nickel Ferrite
Other Titles	Електричні властивості та залежні від магнітного поля вольт-амперні характеристики нанокристалічного фериту нікелю, легованого кобальтом
Authors	Ghosh, P. Mitra, P.
ORCID
Keywords	магнітоопір XRD підгонка Рітвельда magnetoresistance Rietveld fitting
Type	Article
Date of Issue	2021
URI	https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/83345
Publisher	Sumy State University
License	In Copyright
Citation	P. Ghosh, P. Mitra, J. Nano- Electron. Phys. 13 No 2, 02013 (2021). DOI: https://doi.org/10.21272/jnep.13(2).02013
Abstract	Вивчається вплив легування кобальтом фериту нікелю на електропровідність, діелектричні властивості (вимірювані в широкому діапазоні частот від 42 Гц до 5 МГц) та залежні від магнітного поля (до 15 кOe) вольт-амперні характеристики. Інформація про магнітоопір дуже необхідна для залежних від магнітних властивостей електричних застосувань хімічного з'єднання CoxNi1 – xFe2O4. Матеріал готували методом золь-гелевого самозагоряння. Характеристика синтезованих порошків проводилася за допомогою рентгенівської дифракції (XRD) з підгонкою Рітвельда. The influences of cobalt doping in nickel ferrite on electrical conductivity, dielectric properties (measured over a wide frequency range of 42 Hz to 5 MHz) and magnetic field (up to 15 kOe) dependent I-V characteristics are measured. Information about magneto resistance is very much necessary for magnetic property dependent electrical application of chemical routed CoxNi1 – xFe2O4. Material was prepared by sol gel self combustion technique. Characterization of synthesized powders were made using X-ray diffraction (XRD) with Rietveld fitting.
Appears in Collections:	Журнал нано- та електронної фізики (Journal of nano- and electronic physics)