Please use this identifier to cite or link to this item:
https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/85316
Or use following links to share this resource in social networks:
Tweet
Recommend this item
Title | Solid-state Dewetting Formation of In/InTe Nanosystem |
Other Titles |
Формування наносистеми In/InTe методом вторинного твердотільного змочування |
Authors |
Galiy, P.V.
Nenchuk, T.M. Ciszewski, A. Mazur, P. Tsvetkova, O.V. Dzyuba, V.I. Makar, T.R. |
ORCID | |
Keywords |
шаруваті халькогеніди самоорганізовані наноструктури вторинне твердотільне змочування скануючі тунельна мікроскопія/спектроскопія атомно-силова мікроскопія Х-променева фотоелектронна спектроскопія дифракція повільних електронів layered chalcogenides self-assembling nanostructures solid-state dewetting scanning tunneling microscopy/spectroscopy atomic force microscopy X-ray photoelectron spectroscopy low energy electron diffraction |
Type | Article |
Date of Issue | 2021 |
URI | https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/85316 |
Publisher | Sumy State University |
License | In Copyright |
Citation | P.V. Galiy, T.M. Nenchuk, A. Ciszewski, et al., J. Nano- Electron. Phys. 13 No 4, 04032 (2021). DOI: https://doi.org/10.21272/jnep.13(4).04032 |
Abstract |
Для формування наносистеми In/InTe застосовано метод вторинного твердотільного змочування
як перспективний спосіб отримання наноструктур. Фазово-елементний склад та структурна досконалість вихідної поверхні InTe характеризувались методами Х-променевої фотоелектронної спектроскопії, дифракції повільних електронів та атомно-силової мікроскопії. Методом дифракційного Х-променевого структурного і фазового аналізів встановлено тетрагональну кристалічну структуру InTe типу
TlSe (просторова група I4/mcm, параметри гратки a = 8,4414(6) Å, c = 7,1333(5) Å). Дослідження за допомогою скануючої тунельної мікроскопії вихідної поверхні InTe (001), як такої, що використовується
як упорядкований шаблон після термічного осадження індію, показують, що форма та розташування
індукованих індієм наноструктур визначаються квадратною симетрією поверхневої гратки, що визначається тетрагональною об'ємною граткою InTe. Встановлено утворення нанорозмірних 0D-структур в
результаті процесу вторинного твердотільного змочування внаслідок нагрівання поверхні вище температури плавлення індію. Скануюча тунельна спектроскопія виявляє кореляцію між кінетикою покриття індієм та збільшенням на поверхні InTe (001) величини густини станів у забороненій зоні InTe. Solid-state dewetting (SSD) method as a promising way to obtain nanostructures was applied for the formation of In/InTe nanosystem. The phase-elemental composition and structural perfection of the initial InTe surface were characterized by X-ray photoelectron spectroscopy, low energy electron diffraction (LEED) and atomic force microscopy (AFM). X-ray diffraction (XRD) studies revealed the InTe tetragonal crystal structure of the TlSe type (I4/mcm space group, lattice parameters a = 8.4414(6) Å, c = 7.1333(5) Å). Scanning tunneling microscopy (STM) studies of the initial InTe (001) surface and the same one used as an ordered template after thermal indium deposition showed that the shape and arrangement of indiuminduced nanostructures are powered by square surface lattice symmetry as derived from a tetragonal InTe bulk one. We observed the formation of nanosized 0D structures as a result of the SSD process due to surface heating above the indium melting point. The scanning tunnelling spectroscopy (STS) revealed correlation between indium coverage kinetics and an increase in the amount of density of states (DOS) at the surface within the band gap of InTe. |
Appears in Collections: |
Журнал нано- та електронної фізики (Journal of nano- and electronic physics) |
Views
China
1272017
Egypt
361
France
1
Germany
1
Hungary
1
India
1
Ireland
370273
Israel
364772712
Italy
1
Japan
1
Lithuania
1
Pakistan
2358901
Singapore
182386357
Ukraine
9359283
United Kingdom
2358900
United States
156668147
Unknown Country
9359282
Vietnam
3174
Downloads
Canada
105231734
China
130949939
France
1
Germany
53795316
Greece
1
India
1
Ireland
76202
Lithuania
1
Morocco
1
Singapore
364772714
South Korea
1
Switzerland
1
Ukraine
28077109
United Kingdom
1
United States
182386356
Vietnam
1
Files
File | Size | Format | Downloads |
---|---|---|---|
Galiy_jnep_4_2021.pdf | 563.98 kB | Adobe PDF | 865289379 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.