Peak Profile Analysis of X-ray Diffraction Pattern of Zinc Oxide Nanostructure

Abstract

Рентгенівська дифракція є важливим інструментом для аналізу кристалічної структури будьякого кристалічного матеріалу. За допомогою відповідного аналізу піків рентгенівської дифракції можна визначити розмір кристалітів та мікронапруження. Також можуть бути визначені інші параметри, такі як анізотропія росту, кристалічність, густина дислокацій та питома площа поверхні. У роботі вивчалася рентгенівська дифракційна картина нанострижнів ZnO. Розмір кристалітів і деформацію розраховували для всіх піків дифракційної картини. Середнє значення розміру кристалітів становило 47,7 нм. Для різних кристалографічних площин деформація була різною. Використовуючи стандартну формулу, були розраховані параметри решітки структури вюрциту, які виявились рівними a = b = 3,2467 Å та c = 5,2004 Å. Підготовлений зразок має дуже велику середню питому площу поверхні 2,26×105 см2г – 1. Інтенсивність різних дифракційних піків різна, що свідчить про анізотропний ріст кристала.

X-ray diffraction is an important tool to analyze the crystal structure of any crystalline material. By appropriate analysis of X-ray diffraction peaks, the crystallite size and microstrain can be determined. Other parameters such as growth anisotropy, crystallinity, dislocation density and specific surface area can also be determined. We studied here the X-ray diffraction pattern of ZnO nanorods. The crystallite size and strain were calculated for all diffraction peaks of the pattern. The average value of the crystallite size was 47.7 nm. The strain was found to be different for different crystallographic planes. Using the standard formula, the lattice parameters of the wurtzite structure were calculated and found to be equal to a = b = 3.2467 Å and c = 5.2004 Å. The prepared sample has a very large average specific surface area of 2.26×105 cm2g – 1. The intensities of various diffraction peaks are different indicating that the growth of the crystal is anisotropic.