Измерение плотности стационарной плазмы источника ионов сверхвысокочастным интерферометром

Нагорный, Д.А.; Нагорный, А.Г.; Возный, В.И.; Воробьев, Геннадий Савельевич

Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/867

Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item

Title	Измерение плотности стационарной плазмы источника ионов сверхвысокочастным интерферометром
Authors	Нагорный, Д.А. Нагорный, А.Г. Возный, В.И. Vorobiov, Hennadii Saveliiovych
ORCID
Keywords
Type	Article
Date of Issue	2004
URI	http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/867
Publisher	Издательство СумГУ
License
Citation	Измерение плотности стационарной плазмы источника ионов сверхвысокочастным интерферометром [Текст] / Д.А. Нагорный, А.Г. Нагорный, В.И. Возный, Г.С. Воробьев // Вісник Сумського державного університету. Серія Фізика, математика, механіка. — 2004. — №8(67). — С. 123-128.
Abstract	An 8-mm microwave interferometer with frequency conversion for plasma density measurements has been constructed and tested for plasma of RF ion source. In this interferometer a new method for reference intermediate frequency signal shaping is used. It consists in microwave resonator (wave meter) using. In this case interferometer has vary high long-time phase stability. When you are citing the document, use the following link http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/867
Appears in Collections:	Журнал нано- та електронної фізики (Journal of nano- and electronic physics)