Please use this identifier to cite or link to this item:
https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/88133
Or use following links to share this resource in social networks:
Tweet
Recommend this item
Title | Приладово-технологічне моделювання NanowireFET’s на основі деформованого кремнію |
Other Titles |
Technological simulation of nanowire-FET’s based on deformed silicon |
Authors |
Черепов, Б.С.
|
ORCID | |
Keywords |
тривимірні транзисторні структури трехмерные транзисторные структуры three-dimensional transistor structures деформований кремній деформированный кремний deformed silicon коротко канальні ефекти коротко канальные эффекты short channel effects температурні ефекти температурные эффекты temperature effects |
Type | Bachelous Paper |
Date of Issue | 2022 |
URI | https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/88133 |
Publisher | Конотопський інститут Сумського державного університету |
License | Copyright not evaluated |
Citation | Черепов Б. С. Приладово-технологічне моделювання NanowireFET’s на основі деформованого кремнію : робота на здобуття кваліфікаційного ступеня бакалавра : спец. 171 – електроніка / наук. кер. І. П. Бурик. Конотоп : КІ СумДУ, 2022. 44 с. |
Abstract |
Об’єктом дослідження кваліфікаційної роботи є тривимірні структури польових транзисторів на основі деформованого кремнію та їх електричні характеристики.
Мета роботи полягає у дослідженні впливу масштабування та квантових ефектів у каналах тривимірних транзисторів на основі деформованого кремнію на їх робочі характеристики.
Одночасно зі зменшенням розмірів елементів інтегральних мікросхем вирішення теплових проблем пристроїв, що входять до їх складу набуває все більшої актуальності. Інтегральні схеми, що використовуються у військовій, автомобільній та атомній промисловості потребують високих робочих температур. Дослідження впливу різних факторів на самонагрівань FinFET пристроїв є перспективним. Проте наразі чисельних досліджень процесів самонагріву в тривимірних транзисторах типу FinFET недостатньо.
Робота складається із вступу, трьох розділів основної частини та висновків. У першому розділі наведено огляд FET технологій, яка використовується для виготовлення елементів інтегральних мікросхем. У другому розділі розглядаються методи побудови тривимірних структур транзисторів та їх вольт-амперних характеристик за допомогою програмного пакету Silvaco TCAD. У третьому розділі були спроектовані польові транзистори на основі деформованого кремнію та досліджені на вплив масштабування та температури на їх робочі характеристики. |
Appears in Collections: |
Кваліфікаційні роботи здобувачів вищої освіти (КІ) |
Views
Argentina
1
Germany
1
India
1
Iran
1
Ireland
133
Singapore
1
Switzerland
1
Ukraine
878
United Kingdom
439
United States
9597
Unknown Country
877
Downloads
Belgium
1
Germany
440
India
1
Netherlands
1
Singapore
1
Sweden
1
Ukraine
2599
United States
2598
Unknown Country
1
Files
File | Size | Format | Downloads |
---|---|---|---|
Cherepov_bac_rob.pdf | 2.34 MB | Adobe PDF | 5643 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.