Please use this identifier to cite or link to this item:
https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/93321
Or use following links to share this resource in social networks:
Tweet
Recommend this item
| Title | Спосіб визначення придатності плівкових детекторів як матеріалу для детекторів радіаційного випромінювання |
| Authors |
Kurbatov, Denys Ihorovych
Znamenshchykov, Yaroslav Volodymyrovych
Diachenko, Oleksii Viktorovych
Diachenko, Oleksii Viktorovych
|
| ORCID |
http://orcid.org/0000-0002-2754-6367 http://orcid.org/0000-0002-6866-0414 http://orcid.org/0000-0003-2312-5255 http://orcid.org/0000-0003-2312-5255 |
| Keywords |
плівкові детектори film detectors радіаційне випромінювання radiation визначення придатності eligibility determination |
| Type | Patent |
| Date of Issue | 2023 |
| URI | https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/93321 |
| Publisher | Український національний офіс інтелектуальної власності та інновацій |
| License | Copyright not evaluated |
| Citation | Пат. 153828 U Україна, МПК (2023.01) G01T 1/00. Спосіб визначення придатності плівкових детекторів як матеріалу для детекторів радіаційного випромінювання / Д. І. Курбатов, Я. В. Знаменщиков, О. В. Д'яченко (Україна); заявник та патентовласник Сумський державний університет. - № u202204623; заявл. 07.12.2022; опубл. 06.09.2023, Бюл. № 36. 7 c. |
| Abstract |
Спосіб визначення придатності плівкових детекторів як матеріалу для детекторів радіаційного випромінювання включає спочатку розміщення плівкового детектора у закритому боксі без світла, вимірювання темнових вольт-амперних характеристик. Після цього плівковий детектор піддають випромінюванню джерелом світла білого кольору з потужністю випромінювання PL=3,5-91,9 мВт/см2 і вимірюють світлові вольт-амперні характеристики та розраховують відношення: RJ=Jlight/Jdark, де Jlight - густина струму під дією світла, Jdark - густина струму в темноті. Після отримання даних, зразки, що показали відношення RJ більше 2, вважають придатними як матеріал для детекторів радіаційного випромінювання, причому, чим більше значення RJ, тим кращої якості одержаний детекторний зразок, а за відсутності фотовідклику зразка (RJ ~1) зразок відбраковують. |
| Appears in Collections: |
Патенти |
Views
Belgium
1
China
129
Ukraine
874
United States
1490
Unknown Country
2509
Downloads
China
1
Ukraine
875
United States
1491
Unknown Country
1
Files
| File | Size | Format | Downloads |
|---|---|---|---|
| 153828_Kurbatov.pdf | 245.57 kB | Adobe PDF | 2368 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.