Please use this identifier to cite or link to this item:
https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/93363
Or use following links to share this resource in social networks:
Tweet
Recommend this item
Title | Morphological, Structural and Optical Properties of Ba-Doped NiO Nanostructure Thin Films |
Other Titles |
Морфологічні, структурні та оптичні властивості наноструктурних тонких плівок NiO, легованих Ba |
Authors |
Merad, M.Z.
Fellah, L. Diha, A. |
ORCID | |
Keywords |
розпилювальний піроліз NiO легований Ba тонкі плівки заборонена зона енергія Урбаха розмір зерна spray pyrolysis Ba doped NiO thin films band gap Urbach energy grain size |
Type | Article |
Date of Issue | 2023 |
URI | https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/93363 |
Publisher | Sumy State University |
License | In Copyright |
Citation | M.Z. Merad, L. Fellah, A. Diha, J. Nano- Electron. Phys. 15 No 5, 05013 (2023) DOI: https://doi.org/10.21272/jnep.15(5).05013 |
Abstract |
У статті повідомляється про вплив легування барієм на властивості тонкихі плівок NiO. Нелеговані та
леговані плівки були нанесені на скляну підкладку при 450 °C за допомогою техніки пневматичного розпилювального піролізу (PSPT) з різними концентраціями барію (0 – 8 ат.%). Рентгенівські дифракційні картини показують полікристалічну природу плівок із переважною орієнтацією (111). Жодних інших кластерів і домішкових фаз металевого барію не спостерігалося при легуванні Ba. Розмір кристалів осаджених
тонких плівок розраховували за формулою Дебая-Шеррера для двох орієнтацій (111) і (200), і на фотографіях SEM ми знайшли значення в діапазоні від 11,95 до 39,06 нм в обох випадках. У видимій області оптичне пропускання тонких плівок NiO, легованих Ba, впало на 46 % порівняно з нелегованими тонкими плівками NiO (79 %). Було виявлено, що ширина забороненої зони зменшується в діапазоні 3,742 – 3,503 еВ з
легуванням Ba. Енергія безладу Урбаха явно зростає від 262,98 до 356,64 меВ при переході від нелегованого тонкого шару до тонкого шару, легованого при 2 ат. %, потім зменшується до мінімуму 303,14 меВ для
легування барієм 8 ат. %, дозволяючи атомам знайти хороше місце, тобто тонкі плівки стають однорідними
та сильно кристалізованими. Шорсткість була розрахована за допомогою аналізу SEM зображень. Його
значення коливалися в межах 23,26 – 39,06 нм. This paper reports the effect of barium doping on NiO thin films. Undoped and doped films thin films were deposited on a glass substrate at 450 °C using pneumatic spray pyrolysis technique (PSPT) with different concentrations of barium (0 – 8 at. %). X-ray diffraction patterns show the polycrystalline nature of the films with the preferred orientation (111). No other barium metal cluster and impurity phases have been observed with Ba doping. The crystal size of the deposited thin films was calculated using the DebyeScherrer formula for the two orientations (111) and (200), and from the SEM photographs, we found values ranging from 11.95 to 39.06 nm in both cases. In the visible region, the optical transmission of Ba-doped NiO thin films dropped by up to 46 % when compared to undoped NiO thin films (79 %). The band gap was found to be decreasing in the range of 3.742 – 3.503 eV with Ba doping. The Urbach disorder energy clearly increases from 262.98 to 356.64 meV when passing from the undoped thin layer to the thin layer doped at 2 at. %, then decreases to the minimum 303.14 meV for a barium doping of 8 at. %, allowing the atoms to find a good site, i.e. thin films become homogeneous and highly crystallized. The roughness was calculated using SEM image analysis. Its values were ranged between 23.26 – 39.06 nm. |
Appears in Collections: |
Журнал нано- та електронної фізики (Journal of nano- and electronic physics) |
Views
Algeria
991
Bangladesh
190
China
30
Japan
1
Mongolia
1
South Korea
1
Ukraine
9
United States
992
Unknown Country
1
Downloads
Algeria
19
Bangladesh
189
China
100
Hong Kong SAR China
1
India
103
Iran
60
Singapore
1
South Korea
1
United States
379
Files
File | Size | Format | Downloads |
---|---|---|---|
Merad_jnep_5_2023.pdf | 1.15 MB | Adobe PDF | 853 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.