Please use this identifier to cite or link to this item:
http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/9350
Or use following links to share this resource in social networks:
Tweet
Recommend this item
Title | Grain-boundary diffusion in Cu and Ni films with thin metal coating |
Authors |
Pchelintsev, Viktor Oleksandrovych
Hovorun, Tetiana Pavlivna Protsenko, Serhii Ivanovych Chornous, Anatolii Mykolaiovych |
ORCID |
http://orcid.org/0000-0002-9384-5250 http://orcid.org/0000-0002-8070-1610 http://orcid.org/0000-0002-5009-5445 |
Keywords |
зернограничная диффузия диффузионные процессы тонкое покрытие зерномежева дифузія дифузійні процеси тонке покриття grain-boundary diffusion diffusion processes thin coating |
Type | Article |
Date of Issue | 2009 |
URI | http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/9350 |
Publisher | Видавництво СумДУ |
License | |
Citation | T.P. Hovorun, S.I. Protsenko, V.A. Pchelintsev, A.M. Chornous, J. Nano- Electron. Phys. 1 No4, 90 (2009) |
Abstract |
Investigation results of the grain-boundary diffusion in Сu films with thin Ni coating and in Ni films with thin Cu coating by the low-temperature resistometric method are presented in this work. It is shown that during the coating deposition and thermal annealing the irreversible increase in the electrical resistance by the value from tenth parts to a few Ohms is observed. This is caused by the diffusion processes of coating atoms on the grain boundaries of base layers.
При цитуванні документа, використовуйте посилання http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/9350 У роботі проведено дослідження зерномежевої дифузії низькотемпе-ратурним резистометричним методом у плівках Сu з тонким покриттям із Ni та плівок Ni з тонким покриттям із Cu. Показано, що при нанесенні покриття та проведенні термовідпалювання спосте-рігається незворотне збільшення електроопору на величину від десятих частин до декількох Омів, що в першу чергу обумовлено дифузійними процесами атомів покриття на межах зерен базисних шарів. При цитировании документа, используйте ссылку http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/9350 В работе проведено исследование зернограничной диффузии низко-температурным резистометрическим методом в пленках Сu с тонким покрытием из Ni и в пленках Ni с тонким покрытием из Cu. Показано, что при нанесении покрытия и проведении термоотжига наблюдается необратимое увеличение электросопротивления на величину от десятых долей до нескольких Ом, что в первую очередь обусловлено диффузионными процессами атомов покрытия по границам зерен базисных слоев. When you are citing the document, use the following link http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/9350 |
Appears in Collections: |
Журнал нано- та електронної фізики (Journal of nano- and electronic physics) |
Views
China
463421983
EU
1
France
109699
Germany
6229
Greece
1
Iran
1
Ireland
3466777
Italy
1
Lithuania
1
Netherlands
18285
Pakistan
1
Russia
25
Slovakia
1
South Korea
1
Sweden
1
Turkey
3
Ukraine
41089396
United Kingdom
18631591
United States
-1787232945
Unknown Country
-1260269482
Vietnam
219400
Downloads
China
463421983
France
1453807424
Germany
372
Lithuania
1
Russia
1
Ukraine
82173077
United Kingdom
1
United States
-1787232944
Unknown Country
224
Vietnam
1
Files
File | Size | Format | Downloads |
---|---|---|---|
14.pdf | 598.92 kB | Adobe PDF | 212170140 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.