Magnetic Properties of Silicon Doped with Impurity Atoms of Europium

Zikrillaev, N.F.; Mavlonov, G.H.; Trabzon, L.; Isamov, S.B.; Abduganiev, Y.A.; Ibodullaev, Sh.N.; Kushiev, G.A.

Please use this identifier to cite or link to this item: https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/94030

Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item

Title	Magnetic Properties of Silicon Doped with Impurity Atoms of Europium
Other Titles	Магнітні властивості кремнію, легованого домішковими атомами європію
Authors	Zikrillaev, N.F. Mavlonov, G.H. Trabzon, L. Isamov, S.B. Abduganiev, Y.A. Ibodullaev, Sh.N. Kushiev, G.A.
ORCID
Keywords	AFM XRD Брегг-Брентано рентгенівське випромінювання стала ґратки індекс Міллера кут Брегга Bragg-Brentano X-rays lattice constant Miller index Bragg angle
Type	Article
Date of Issue	2023
URI	https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/94030
Publisher	Sumy State University
License	In Copyright
Citation	N.F. Zikrillaev, G.H. Mavlonov, L. Trabzon, et al., J. Nano- Electron. Phys. 15 No 6, 06001 (2023) DOI: https://doi.org/10.21272/jnep.15(6).06001
Abstract	Методом Ван-дер-Пау (ВДП) досліджено електричні параметри дифузійно легованих атомами європію зразків кремнію. Експериментальні результати, зокрема морфологію поверхні, досліджували за допомогою атомно-силового мікроскопа (АСМ). Стала ґратки матеріалів була розрахована за допомогою закону Брегга-Брентано з використанням рентгенівської дифракції на рентгенограмі зразка Si˂P,Eu˃. The electrical parameters of silicon samples diffusion doped by europium impurity atoms were studied by Van der Pauw (VDP) method. The experimental results were examined, particularly the surface morphology using an Atomic Force Microscope (AFM). The lattice constant of the materials was calculated with the help of Bragg-Brentano`s law using X-ray diffraction on the XRD pattern of the Si˂P,Eu˃ sample.
Appears in Collections:	Журнал нано- та електронної фізики (Journal of nano- and electronic physics)