Please use this identifier to cite or link to this item:
https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/94925
Or use following links to share this resource in social networks:
Tweet
Recommend this item
Title | Absorption and Transmission of Macroporous Silicon and Nanowires |
Other Titles |
Поглинання та пропускання макропористого кремнію та нанодротин |
Authors |
Onyshchenko, V.F.
Karachevtseva, L.A. Andrieieva, K.V. Dmytruk, N.V. Evmenova, A.Z. |
ORCID | |
Keywords |
макропористий кремній нонодротини поглинання пропускання macroporous silicon nanowires absorption transmission |
Type | Article |
Date of Issue | 2024 |
URI | https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/94925 |
Publisher | Sumy State University |
License | Creative Commons Attribution 4.0 International License |
Citation | V.F. Onyshchenko et al., J. Nano- Electron. Phys. 16 No 1, 01007 (2024) https://doi.org/10.21272/jnep.16(1).01007 |
Abstract |
Розраховується поглинання та пропускання макропористого кремнію та нанодротин за допомогою
запропонованої аналітичної моделі. Аналітична модель враховує поглинання та пропускання макропористого шару та монокристалічної підкладки. Розраховується вплив об’ємної частки пор та глибини
пор на поглинання та пропускання макропористого кремнію. Макропористий шар та шар нанодротин
розглядаються як ефективне середовище. Структуровані поверхні макропористого шару розглядаються
як Ламбертові поверхні. Поглинання та пропускання макропористого кремнію та кремнієвих нанодротин розраховані за аналітично знайденими формулами. Відбиття від поверхонь макропористого кремнію впливає на поглинання, пропускання та захоплення світла макропористим кремнієм. Поглинання
макропористого кремнію зростає зі збільшенням об’ємної частки пор, завдяки зменшенню ефективного
показника заломлення шару макропористого кремнію. Поглинання макропористого кремнію починає
зменшуватися при високій об’ємній частці пор завдяки збільшенню відбиття від межі шару макропористого кремнію з монокристалічною підкладкою. Спектр поглинання макропористого кремнію не залежить від глибині пор, коли об’ємна частка пор менше 0,25. Пропускання макропористого кремнію зростає зі збільшенням об’ємної частки пор по відношенню до монокристалу кремнію. Зростання товщини
макропористого кремнію та зменшення товщини монокристалічної підкладки приводить до збільшення пропускання макропористого кремнію. Absorption and transmittance of macroporous silicon and nanowires are calculated using the proposed analytical model. The analytical model takes into account the absorption and transmission of the macroporous layer and the monocrystalline substrate. The influence of the pore volume fraction and pore depth on the absorption and transmittance of macroporous silicon is calculated. The macroporous layer and the nanowire layer are considered as an effective medium. The structured surfaces of the macroporous layer are considered as Lambert surfaces. Absorption and transmittance of macroporous silicon and silicon nanowires are calculated according to formulas found analytically. Reflection from the surfaces of macroporous silicon affects the absorption, transmission, and trapping of light by the macroporous silicon. The absorption of macroporous silicon increases with an increase in the volume fraction of pores, due to a decrease in the effective refractive index of the macroporous silicon layer. The absorption of macroporous silicon begins to decrease at high pore volume fraction due to the increase in reflection from the boundary of the layer of macroporous silicon with a monocrystalline substrate. The absorption spectrum of macroporous silicon does not depend on the pore depth when the pore volume fraction is less than 0.25. The transmittance of macroporous silicon increases with an increase in the volume fraction of pores in relation to single crystal silicon. An increase in the thickness of the macroporous silicon and a decrease in the thickness of the monocristalline substrate lead to an increase in the transmittance of macroporous silicon. |
Appears in Collections: |
Журнал нано- та електронної фізики (Journal of nano- and electronic physics) |
Views
China
1
India
1
Japan
1
South Korea
1
Ukraine
1
United States
60
Unknown Country
12
Downloads
Australia
1
Belgium
23
China
61
France
1
Germany
1
Ukraine
11
United States
61
Unknown Country
78
Files
File | Size | Format | Downloads |
---|---|---|---|
Onyshchenko_jnep_1_2024.pdf | 355.81 kB | Adobe PDF | 237 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.