Please use this identifier to cite or link to this item:
https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/95220
Or use following links to share this resource in social networks:
Tweet
Recommend this item
Title | Electrodynamic Properties of Resonator Probes for Local Microwave Diagnostics of Nanoelectronic Objects |
Other Titles |
Електродинамічні властивості резонаторних зондів для локальної НВЧ діагностики наноелектронних об'єктів |
Authors |
Babychenko, O.Yu.
Vasiliev, Yu.S. Karnaushenko, V.P. Piataikina, М.I. Shcherban, I.M. |
ORCID | |
Keywords |
резонаторні зонди чвертьхвильовий резонатор розподіл поля на відстані вістря-зразок нанооб'єкти електродинамічні властивості метод скінченних елементів локальна мікрохвильова діагностика регульована чутливість ближнє поле екванесцентне електромагнітне поле resonator probes quarter-wave resonator tip-sample distance field distribution nanoobjects electrodynamic properties finite element method local microwave diagnostics tunable sensitivity near-field evanescent electromagnetic field |
Type | Article |
Date of Issue | 2024 |
URI | https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/95220 |
Publisher | Sumy State University |
License | Creative Commons Attribution 4.0 International License |
Citation | O.Yu. Babychenko, Yu.S. Vasiliev, V.P. Karnaushenko М.I. Piataikina, I.M. Shcherban, J. Nano- Electron. Phys. 16 No 2, 02014 (2024) DOI https://doi.org/10.21272/jnep.16(2).02014 |
Abstract |
У роботі основну увагу приділено деталізації розподілу ближнього еванесцентного поля залежно
від геометрії апертурно-утворюючої області, електрофізичних властивостей об'єктів, що досліджуються,
та оцінки прийомів сканування властивостей об'єктів по глибині. Наведено результати дослідження
електродинамічних властивостей резонаторних зондів з коаксіальною апертурою, розроблених для локальної НВЧ діагностики різних об'єктів. Зокрема, аналізується вплив розміру та форми вістря, відстані вістря-зразок на розподіл поля класичного чвертьхвильового вимірювального резонаторного перетворювача. Наводяться кількісні залежності, що всебічно характеризують систему зонд-об'єкт по локальності та чутливості. Обговорюються різні варіанти зміни геометрії апертурного вузла зондів для
оптимізації характеристик перетворення НВЧ сенсорів. Наводяться результати дослідження розподілу
поля зонда з чутливістю, що перебудовується, за рахунок зміни положення кінця вістря щодо площини
апертури. Встановлено залежність розподілу поля від усунення вістря у такому зонді. Досліджено різні
варіації режимів роботи зонда з чутливістю, що перебудовується: занурення вістря в апертуру зонда,
висування вістря усередину об'єкта, висування вістря зонда з апертури до поверхні об'єкта. The work focuses on detailing the distribution of the near evanescent field depending on the geometry of the aperture-forming region, the electrical properties of the objects under study, and assessing methods for scanning the properties of objects in depth. The results of a study of the electrodynamic properties of resonator probes with a coaxial aperture, developed for local microwave diagnostics of various objects, are presented. In particular, the influence of the size and shape of the tip and the tip-sample distance on the field distribution of a classical quarter-wave resonator measuring transducer is analyzed. Quantitative dependencies are presented that comprehensively characterize the probe-object system in terms of locality and sensitivity. Various options for changing the geometry of the probe aperture assembly are discussed to optimize the conversion characteristics of microwave sensors. The results of a study of the field distribution of a probe with tunable sensitivity by changing the position of the tip tip relative to the aperture plane are presented. The dependence of the field distribution on the tip displacement in such a probe has been established. Various variations of the operating modes of a probe with tunable sensitivity were studied: immersion of the tip into the probe aperture, extension of the tip into the interior of the object, extension of the probe tip from the aperture to the surface of the object. |
Appears in Collections: |
Журнал нано- та електронної фізики (Journal of nano- and electronic physics) |
Views
Argentina
1
China
1
Japan
1
Ukraine
53
United States
50
Unknown Country
108
Downloads
China
1
Finland
1
Germany
1
Ireland
5
Ukraine
1
United States
108
Unknown Country
1
Files
File | Size | Format | Downloads |
---|---|---|---|
Babychenko_jnep_2_2024.pdf | 1.34 MB | Adobe PDF | 118 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.