Please use this identifier to cite or link to this item:
https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/95515
Or use following links to share this resource in social networks:
Tweet
Recommend this item
Title | Наноструктури для електроніки на основі двовимірних матеріалів |
Authors |
Шевченко, В.І.
|
ORCID | |
Keywords |
графен електропровідність мікроскопія нанаоматеріал |
Type | Masters thesis |
Date of Issue | 2024 |
URI | https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/95515 |
Publisher | Сумський державний університет |
License | Copyright not evaluated |
Citation | Шевченко В. І. Наноструктури для електроніки на основі двовимірних матеріалів : робота на здобуття кваліфікаційного ступеня магістра : спец. 171 - електроніка / наук. кер. Н. І. Шумакова. Суми : Сумський державний університет, 2024. 44 с. |
Abstract |
Актуальність теми: актуальність кваліфікаційної роботи обумовлена тим, що
двовимірні матеріали є центральним елементом для переважної більшості
приладів нанорозмірних маштабів, які використовують у сучасній електроніці.
Завдяки використанню двовимірних матеріалів електронне обладнання вдалося
зробити більш компактним та точним, збільшити його функціональні можливості.
Мета кваліфікаційної роботи магістра полягає в дослідженні наноструктур
для електроніки на основі двовимірних матеріалів. Вона передбачає вивчення
фізичних властивостей таких матеріалів, дослідження методів їх виготовлення та
можливого застосування в електронних пристроях.
Під час виконання роботи використовували методи досліджень: аналітичний
огляд літературних даних, порівняння розрахункових і експериментальних
результатів різних авторів, узагальнення проаналізованих результатів.
У результаті проведених наукових досліджень установлено, що двовимірні
матеріали перспективними для розвитку нанотехнологій, зокрема при
виготовленні транзисторів та сенсорів.
Розглянуті методи: хімічного осадження з газової фази, метод літографії та
лазерний метод отримання наноструктур на основі двовимірних матеріалів.
Розглянуто методи: просвічуючої електронної мікроскопії та скануючого
тунельного мікроскопу для дослідження наноструктур. Проведено вимірювання
розмірів наночастинок та побудовано гістограми за зібраними даними за
допомогою програм ImageJ JS. |
Appears in Collections: |
Кваліфікаційні роботи здобувачів вищої освіти (ЕлІТ) |
Views
Argentina
1
Russia
1
Ukraine
1
United States
11
Downloads
Germany
5
United States
10
Files
File | Size | Format | Downloads |
---|---|---|---|
Shevchenko_mag_rob.pdf | 956.37 kB | Adobe PDF | 15 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.