Please use this identifier to cite or link to this item:
https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/95536
Or use following links to share this resource in social networks:
Tweet
Recommend this item
Title | Дослідження енергетичних рівнів напівпровідників метод ІЧ спектроскопії |
Authors |
Мальований, М.О.
|
ORCID | |
Keywords |
ІЧ спектроскопія спектрометр аналіз хімічний зв'язок |
Type | Bachelous Paper |
Speciality | 171 - Електроніка |
Date of Issue | 2024 |
URI | https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/95536 |
Publisher | Сумський державний університет |
License | Copyright not evaluated |
Citation | Мальований М. О. Дослідження енергетичних рівнів напівпровідників метод ІЧ спектроскопії : робота на здобуття кваліфікаційного ступеня бакалавра : спец. 171 - електроніка / наук. кер. О. В. Пилипенко. Суми : Сумський державний університет, 2024. 33 с. |
Abstract |
Сьогодні напівпровідники займають ключове місце у розвитку сучасних
технологій, зокрема в електроніці, фотоніці та сонячній енергетиці. Вивчення
енергетичних рівнів напівпровідників дозволяє краще розуміти їх електронні
властивості, що є критично важливим для створення ефективних електронних
та оптичних приладів. Інфрачервона (ІЧ) спектроскопія є одним із
найпотужніших методів дослідження структури та властивостей
напівпровідників, оскільки дозволяє визначати енергетичні рівні, виявляти
домішки та дефекти в матеріалі.
Об’єкт дослідження – Інфрачервона спектроскопія
Предмет дослідження – Інфрачервоні спектри оксидів металів.
Мета роботи: Дослідження енергетичних рівнів напівпровідників
методом інфрачервоної спектроскопії для визначення їх електронних
властивостей та аналіз отриманих спектрів. |
Appears in Collections: |
Кваліфікаційні роботи здобувачів вищої освіти (ЕлІТ) |
Views

1

1

9

4

37

54
Downloads

1

1

18
Files
File | Size | Format | Downloads |
---|---|---|---|
Malliovaniy_bak_rob.pdf | 1.12 MB | Adobe PDF | 20 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.