Please use this identifier to cite or link to this item: https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/96820
Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item
Title Resistance Based Drain Current Model of Surrounded Channel Junction Less Field Effect Transistor
Other Titles Модель струму стоку на основі опору оточеного каналу польового транзистора
Authors Das, N.
Sarma, K.C.D.
ORCID
Keywords модель струму стоку
подвійний затвор
JLFET
оточений канал
SCJLFET
TCAD
drain current model
double gate
surrounded channel
Type Article
Date of Issue 2024
URI https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/96820
Publisher Sumy State University
License Creative Commons Attribution 4.0 International License
Citation N. Das et al., J. Nano- Electron. Phys. 16 No 4, 04002 (2024) https://doi.org/10.21272/jnep.16(4).04002
Abstract У цій статті розглянута аналітична модель на основі опору для струму стоку польового транзистора з оточеним каналом (SCJLFET), який демонструє переваги транзисторів з подвійним та одинарним затворами. Ця стаття проілюструвала використання опору каналу для отримання струму стоку. Модель заснована на концепції, згідно з якою канал JLFET складається з шару просторового заряду, нейтрального шару, шару накопичення, або з комбінації будь-яких двох із цих шарів. Розробка моделі починається з формулювання опорів цих трьох типів шарів з подальшим визначенням загального опору каналу в чотирьох режимах роботи JLFET. У підпороговому режимі присутній лише виснажуючий шар, тоді як у режимі об’ємного струму загальний опір виходить шляхом паралельної комбінації опорів нейтрального напівпровідника. У режимі плоскої зони присутній лише нейтральний напівпровідниковий шар, тоді як у режимі накопичення загальний опір виходить шляхом паралельної комбінації опорів накопичення та виснаження. Модель струму стоку в чотирьох модах отримується діленням різниці потенціалів по каналу на відповідні опори мод. Це спрощена модель, яка має повністю аналітичний характер, що скорочує час обчислень при проектуванні. Вираз потенціалу також отриманий за допомогою рівняння Пуассона. Аналітична модель струму стоку була перевірена за допомогою результатів чисельного моделювання TCAD шляхом порівняння характеристик передачі та виходу пристрою, отриманих з TCAD, і моделі струму стоку.
A resistance based analytical model for drain current of a Junction less field effect transistor with surrounded channel (SCJLFET) is reported in this paper. Surrounded channel junction less field effect transistor (SCJLFET) exhibits the merits of both double and single gate Junction less field effect transistor. This paper illustrated the uses of resistance of the channel to obtain the drain current. The model is based on the concept that channel of a JLFET is comprised of either a space charge layer or a neutral layer or an accumulation layer or combination of any two of these layers. The model development starts with the formulation of resistances of these three types of layers followed by determination of total channel resistance in the four modes of operation of a JLFET. In the sub threshold mode only depletion layer is present while in bulk current mode total resistance is obtained by parallel combination of neutral semiconductor and depletion resistances. In flat band mode only neutral semiconductor layer is present while in accumulation mode total resistance is obtained by parallel combination of accumulation and depletion resistances. The drain current model in four modes is obtained by dividing the potential difference across the channel with the corresponding resistances of the modes. It is simplified model based on resistance of the body of the device. The model developed is fully analytical in nature which reduces the computation time in designing. The model is full range model applicable in all the operation modes of surrounded channel Junction less field effect transistor (SCJLFET). The potential expression also obtained using Poisson’s equation. The analytical drain current model has been verified with the help of TCAD numerical simulation results by comparing the transfer and output characteristics of the device obtained from TCAD and the drain current model.
Appears in Collections: Журнал нано- та електронної фізики (Journal of nano- and electronic physics)

Views

Downloads

Files

File Size Format Downloads
Das_jnep_4_2024.pdf 614.74 kB Adobe PDF 0

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.