Please use this identifier to cite or link to this item: https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/98976
Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item
Title Study of the Elemental Composition of Thin Nanocrystalline Films of CoNi and FeNi Alloys by X-ray Spectral Microanalysis
Other Titles Дослідження елементного складу тонких нанокристалічних плівок сплавів CoNi та FeNi методом рентгеноспектрального мікроаналізу
Authors Loboda, V.B.
Khursenko, S.M.
Kravchenko, V.O.
Zubko, V.M.
Chepizhnyi, A.V.
ORCID
Keywords рентгеноспектральний мікроаналіз
хімічний склад
тонкі плівки
нанокристалічні плівки
сплави
X-ray spectral microanalysis
chemical composition
thin films
nanocrystalline films
alloys
Type Article
Date of Issue 2025
URI https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/98976
Publisher Sumy State University
License Creative Commons Attribution 4.0 International License
Citation V.B. Loboda et al., J. Nano- Electron. Phys. 17 No 2, 02020 (2025) https://doi.org/10.21272/jnep.17(2).02020
Abstract У статті наведено результати дослідження елементного складу нанокристалічних плівок сплавів CoNi та FeNi методом рентгенівського мікроаналізу (рентгенівський мікроаналізатор на базі спектрометра з дисперсією за енергією, що входить до складу растрового електронного мікроскопа РЕМ-103- 01). Плівки сплавів завтовшки 10-200 нм були отримані конденсацією випарених вихідних масивних бінарних сплавів CoNi та FeNi у вакуумі 10-4 Па. Сплави CoNi випаровувалися електронно-променевим способом за допомогою електронної діодної гармати зі швидкістю конденсації 0,5-1,5 нм/с. Чистота вихідних металів Co та Ni становила не менше 99,9 %. Концентрації компонент плівок сплаву CoNi змінювалися в широкому діапазоні. Плівки сплаву FeNi були отримані в результаті випаровування технічного сплаву пермалою 50Н. Характеристичний рентгенівський спектр речовини плівки збуджувався при скануванні електронним пучком ділянки плівки розмірами 300  300 мкм; для товстіших плівок розмір ділянки сканування становив 1  1 мкм. Як еталони при проведенні кількісних вимірювань елементного складу плівок сплавів певної товщини використовувалися тонкі плівки Ni такої ж товщини. Результати рентгенівського мікроаналізу свідчать про високу чистоту плівок. Зіставлення результатів вимірювань рентгенівським мікроаналізом концентрацій вихідних сплавів та отриманих плівок показало їх збіг у межах похибки аналізу
The article presents the results of studying the elemental composition of CoNi and FeNi alloy nanocrystalline films by X-ray spectral microanalysis (X-ray microanalyzer based on an energy-dispersive spectrometer, which is part of the REM-103-01 scanning electron microscope). The alloy films with thicknesses of 10-200 nm were obtained by condensation of evaporated initial massive binary CoNi and FeNi alloys in a vacuum of 10 – 4 Pa. The CoNi alloys were evaporated by an electron beam using an electron diode gun with a condensation rate of 0.5-1.5 nm/s. The purity of the initial Co and Ni metals was at least 99.9 %. The concentrations of the CoNi alloy film components varied over a wide range. The FeNi alloy films were obtained by evaporation of Permalloy 50N technical alloy. The characteristic X-ray spectrum of the film substance was excited by scanning a film section with dimensions of 300  300 m with an electron beam; for thicker films, the scanning section size was 1  1 m. Thin Ni films of the same thickness were used as standards when conducting quantitative measurements of the elemental composition of alloy films of a certain thickness. The results of X-ray microanalysis indicate high purity of the films. Comparison of the results of X-ray microanalysis measurements of the concentrations of the initial alloys and the obtained films showed their coincidence within the limits of the analysis error
Appears in Collections: Журнал нано- та електронної фізики (Journal of nano- and electronic physics)

Views

Downloads

Files

File Size Format Downloads
Loboda_jnep_2_2025.pdf 947.57 kB Adobe PDF 0

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.