Please use this identifier to cite or link to this item:
https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/98976
Or use following links to share this resource in social networks:
Tweet
Recommend this item
Title | Study of the Elemental Composition of Thin Nanocrystalline Films of CoNi and FeNi Alloys by X-ray Spectral Microanalysis |
Other Titles |
Дослідження елементного складу тонких нанокристалічних плівок сплавів CoNi та FeNi методом рентгеноспектрального мікроаналізу |
Authors |
Loboda, V.B.
Khursenko, S.M. Kravchenko, V.O. Zubko, V.M. Chepizhnyi, A.V. |
ORCID | |
Keywords |
рентгеноспектральний мікроаналіз хімічний склад тонкі плівки нанокристалічні плівки сплави X-ray spectral microanalysis chemical composition thin films nanocrystalline films alloys |
Type | Article |
Date of Issue | 2025 |
URI | https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/98976 |
Publisher | Sumy State University |
License | Creative Commons Attribution 4.0 International License |
Citation | V.B. Loboda et al., J. Nano- Electron. Phys. 17 No 2, 02020 (2025) https://doi.org/10.21272/jnep.17(2).02020 |
Abstract |
У статті наведено результати дослідження елементного складу нанокристалічних плівок сплавів
CoNi та FeNi методом рентгенівського мікроаналізу (рентгенівський мікроаналізатор на базі спектрометра з дисперсією за енергією, що входить до складу растрового електронного мікроскопа РЕМ-103-
01). Плівки сплавів завтовшки 10-200 нм були отримані конденсацією випарених вихідних масивних
бінарних сплавів CoNi та FeNi у вакуумі 10-4 Па. Сплави CoNi випаровувалися електронно-променевим
способом за допомогою електронної діодної гармати зі швидкістю конденсації 0,5-1,5 нм/с. Чистота вихідних металів Co та Ni становила не менше 99,9 %. Концентрації компонент плівок сплаву CoNi змінювалися в широкому діапазоні. Плівки сплаву FeNi були отримані в результаті випаровування технічного сплаву пермалою 50Н. Характеристичний рентгенівський спектр речовини плівки збуджувався
при скануванні електронним пучком ділянки плівки розмірами 300 300 мкм; для товстіших плівок
розмір ділянки сканування становив 1 1 мкм. Як еталони при проведенні кількісних вимірювань
елементного складу плівок сплавів певної товщини використовувалися тонкі плівки Ni такої ж товщини. Результати рентгенівського мікроаналізу свідчать про високу чистоту плівок. Зіставлення результатів вимірювань рентгенівським мікроаналізом концентрацій вихідних сплавів та отриманих плівок показало їх збіг у межах похибки аналізу The article presents the results of studying the elemental composition of CoNi and FeNi alloy nanocrystalline films by X-ray spectral microanalysis (X-ray microanalyzer based on an energy-dispersive spectrometer, which is part of the REM-103-01 scanning electron microscope). The alloy films with thicknesses of 10-200 nm were obtained by condensation of evaporated initial massive binary CoNi and FeNi alloys in a vacuum of 10 – 4 Pa. The CoNi alloys were evaporated by an electron beam using an electron diode gun with a condensation rate of 0.5-1.5 nm/s. The purity of the initial Co and Ni metals was at least 99.9 %. The concentrations of the CoNi alloy film components varied over a wide range. The FeNi alloy films were obtained by evaporation of Permalloy 50N technical alloy. The characteristic X-ray spectrum of the film substance was excited by scanning a film section with dimensions of 300 300 m with an electron beam; for thicker films, the scanning section size was 1 1 m. Thin Ni films of the same thickness were used as standards when conducting quantitative measurements of the elemental composition of alloy films of a certain thickness. The results of X-ray microanalysis indicate high purity of the films. Comparison of the results of X-ray microanalysis measurements of the concentrations of the initial alloys and the obtained films showed their coincidence within the limits of the analysis error |
Appears in Collections: |
Журнал нано- та електронної фізики (Journal of nano- and electronic physics) |
Views
Downloads
Files
File | Size | Format | Downloads |
---|---|---|---|
Loboda_jnep_2_2025.pdf | 947.57 kB | Adobe PDF | 0 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.