Показаны результаты 1 - 2 из 2
| Год выпуска | Название | Автор(ы) | Тип | Просмотров | Загружено |
|---|---|---|---|---|---|
| 2014 | Multiangular and Spectral Ellipsometry for Semiconductor Nanostructures Classification | Goloborodko, A.A.; Epov, M.V; Robur, L.Y; Rodionova, T.V. | Article | 1589120197 | 705340013 |
| 2021 | Topological Analysis of the Effect of Annealing on the Grain-Boundary Structure of Polysilicon Films | Rodionova, T.V.; Lytvyn, P.M.; Len, Yu.A.; Kulyk, S.P. | Article | 87544035 | 77182558 |