Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/36005
Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item
Title Численное моделирование процессов формирования электронных пучков ваксиально - симметричных системах
Other Titles Чисельне моделювання процесів формування електронних пучків у аксіально-симетричних системах
Numerical Simulation of the Electron Beam Formation in the Axially Symmetric Systems
Authors Barsuk, Ivan Volodymyrovych
Vorobiov, Hennadii Saveliiovych
Ponomarova, Hanna Oleksandrivna
ORCID
Keywords Потенциал
Фокусирующая систем
Электрод
Электронно-оптическая система
Электронный пучок
Potential
Focusing system
Electrode
Electron-optical system
Electron beam
Потенціал
Фокусувальна систем
Електрод
Електронно-оптична система
Електронний пучок
Type Article
Date of Issue 2014
URI http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/36005
Publisher Сумской государственный университет
License
Citation И.В. Барсук, Г.С. Воробьев, А.А. Пономарева, Ж. Нано- электрон. физ. 6 № 2, 02012 (2014)
Abstract У роботі викладена загальна методика моделювання процесів формування електронних пучків уаксіально-симетричних системах, яка базується на результатах тестових експериментів вольт-амперних характеристик типової триелектродної електроннооптичної системи, чисельному аналізіелектричних полів у міжелектродних проміжках та аналізі траєкторій руху електронів у заданих полях. Методика апробована шляхом чисельних експериментів у заданих реальних інтервалах напругна фокусувальних електродах і може бути рекомендована при практичній реалізації електроннопроменевих приладів різного призначення. При цитуванні документа, використовуйте посилання http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/36005
В работе изложена общая методика моделирования процессов формирования эле к тронных пучков в аксиально - симметричных системах, которая базируется на результатах тестовых экспериментов вольт - амперных характеристик типичной трехэл ектродной электронно - оптической системы, числе н- ном анализе электрических полей в межэлектродных промежутках и анализе траекторий движения электронов в заданных полях. Методика апробирована путем численных экспериментов в заданных реальных интервалах напряж ений на фокусирующих электродах и может быть рекомендована при практической ре а лизации электронно - лучевых прибор ов различного назначения При цитировании документа, используйте ссылку http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/36005
The paper presents a general method of modeling the electron beam formation processes in the axially - symmetric systems. This method is based on the experi mental current - voltage characteristics of a typical three - electrode electron - optical system, on the numerical analysis of the electric fields in the electrode gap and on the trajectory analysis in the previously calculated fields. The method is tested by n umerical expe r- iments at predete r mined intervals of the real voltage s on the focusing electrodes and can be recommended for the practical realization of the electron - beam devices for different purposes When you are citing the document, use the following link http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/36005
Appears in Collections: Журнал нано- та електронної фізики (Journal of nano- and electronic physics)

Views

Belgium Belgium
603176473
Canada Canada
1
China China
2
Finland Finland
1
France France
47098
Germany Germany
3744
Greece Greece
5535891
Ireland Ireland
62842483
Lithuania Lithuania
1
Netherlands Netherlands
47094
Russia Russia
14
Singapore Singapore
1
Spain Spain
1
Ukraine Ukraine
1638186431
United Kingdom United Kingdom
881935696
United States United States
603176472
Unknown Country Unknown Country
1638186430

Downloads

Brazil Brazil
1
China China
2
France France
1
Germany Germany
2
Indonesia Indonesia
1
Ireland Ireland
1
Lithuania Lithuania
1
Ukraine Ukraine
603176470
United Kingdom United Kingdom
1
United States United States
603176476
Unknown Country Unknown Country
1138170572

Files

File Size Format Downloads
Numerical Simulation.pdf 914.39 kB Adobe PDF -1950443768

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.