Інтерфейс програми для чисельного моделювання спектрів рентгенівської дифрації

Литвиненко, Д.О.; Ніколаєнко, А.О.

Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/38742

Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item

Title	Інтерфейс програми для чисельного моделювання спектрів рентгенівської дифрації
Authors	Литвиненко, Д.О. Ніколаєнко, А.О.
Keywords	чисельні методи численные методы numerical methods рентгенівська дифракція рентгеновская дифракция x-ray diffraction чисельне моделювання численное моделирование numerical simulation
Type	Conference Papers
Date of Issue	2014
URI	http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/38742
Publisher	Сумський державний університет
License
Citation	Литвиненко, Д.О. Інтерфейс програми для чисельного моделювання спектрів рентгенівської дифрації [Текст] / Д.О. Литвиненко, А.О. Ніколаєнко; кер.: І.П. Бурик, М.М. Іващенко // Перший крок у науку: матеріали VІ студентської конференції фак-ту електроніки та інформаційних технологій, м. Суми, 7 грудня 2014 р. / Відп. за вип. С.І. Проценко. — Суми: СумДУ, 2014. — С. 18.
Abstract	На сьогодні відомі різні чисельні методи, які дозволяють оцінити мікроструктуру плівкових матеріалів та її подальший вплив на фізичні властивості зразків. Більшість із таких методів обмежуються даними досліджень, отриманими за допомогою растрової або просвічуючої електронної мікроскопії, атомно-силової мікроскопії, рентгенівського дифракційного аналізу. Проте, оскільки густина дефектів в плівках дуже висока, то для їх виявлення в багатьох випадках роздільної здатності електронно-мікроскопічних зображень не достатньо. Тому замість традиційних підходів для вивчення мікроструктури плівок (розміру кристалітів, дефектів кристалічної будови) активно застосовуються передові чисельні методи.
Appears in Collections:	Наукові видання (ЕлІТ)