Please use this identifier to cite or link to this item:
http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/4228
Or use following links to share this resource in social networks:
Tweet
Recommend this item
| Title | Моделирование распределения имплантированных ионов по глубине |
| Authors |
Sokolov, Serhii Viktorovych
Марченко, Т.В. |
| Keywords |
метод ионной имплантации метод іонної імплантації ion implantation |
| Type | Conference Papers |
| Date of Issue | 2010 |
| URI | http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/4228 |
| Publisher | Видавництво СумДУ |
| License | |
| Citation | Соколов, С.В. Моделирование распределения имплантированных ионов по глубине [Текст] / С.В. Соколов, Т.В. Макаренко // Матеріали та програма науково-технічної конференції викладачів, співробітників, аспірантів і студентів факультету електроніки та інформаційних технологій : Суми, 19-23 квітня 2010 року / Відп. за вип. С.І. Проценко. — Суми : СумДУ, 2010. — С. 166. |
| Abstract | |
| Appears in Collections: |
Наукові видання (ЕлІТ) |
Views
Belarus
1
Canada
1
China
1
France
2
Germany
130
Kazakhstan
1
Netherlands
11392
Russia
14
Spain
1
Turkey
1
Ukraine
2690
United Kingdom
45555
United States
8491
Unknown Country
50
Downloads
China
2
France
2
Germany
131
Ukraine
2468
United Kingdom
1
Unknown Country
76
Files
| File | Size | Format | Downloads |
|---|---|---|---|
| ElIT_2010.pdf | 8,31 MB | Adobe PDF | 2680 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.
