Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/44803
Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item
Title Contrast of Electron Microscopy Images of Amorphous Objects
Other Titles Контраст электронномикроскопических изображений аморфных объектов
Контраст електронномікроскопічних зображень аморфних об’єктів
Authors Svatiuk, O.Ya.
Keywords Electron microscopy
Electron diffraction
Amplitude contrast
Amorphous material
Microstructure
Електронна мікроскопія
Дифракція електронів
Амплітудний контраст
Аморфні матеріали
Мікроструктура
Электронная микроскопия
Дифракция электронов
Амплитудный контраст
Аморфные материалы
Микроструктура
Type Article
Date of Issue 2016
URI http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/44803
Publisher Sumy State University
License
Citation O.Ya. Svatiuk, J. Nano- Electron. Phys. 8 No 1, 01005 (2016)
Abstract Запропоновано визначення контрасту електронномікроскопічних зображень як функції електронних потоків розсіяних в межах апертурної діафрагми різними локальними ділянками об’єкту. Обґрунтовано використання такого підходу для кількісного визначення величини амплітудного (абсорбційного) контрасту на зображеннях аморфних об’єктів з різними типами гетерогенності атомної та континуальної структури. Важливою особливістю визначеного контрасту є лінійна залежність від різниці електронних потоків, які формують зображення, та зручна область змін величини контрасту від 0 до 1 відносних одиниць.
Предложено определение контраста электронномикроскопических изображений как функции электронных потоков, рассеянных в пределах апертурной диафрагмы разными локальными участками объекта. Обосновано использование такого подхода для количественного определения величины амплитудного (абсорбционного) контраста на изображениях аморфных объектов с разными типами гетерогенности атомной и континуальной структуры. Важной особенностью определенного контраста есть линейная зависимость от разности электронных потоков, которые формируют изображение, и удобный диапазон изменений контраста от 0 до 1 относительных единиц.
It has been proposed to determine the contrast in electron microscopy image via the total electron fluxes scattered beyond the aperture diaphragm by local areas of the object under study to analyze quantitatively the amplitude (absorption) contrast of the amorphous objects with different types of heterogeneities of the atomic and continual structure. The significant properties of the determined contrast are its linear dependence on the difference of electron beam fluxes that form the image and a convenient range of variation from 0 to 1 relative units.
Appears in Collections: Журнал нано- та електронної фізики (Journal of nano- and electronic physics)

Views

Canada Canada
1
China China
1
France France
3
Germany Germany
5
Israel Israel
1
Italy Italy
1
Lithuania Lithuania
1
Ukraine Ukraine
1361
United Kingdom United Kingdom
8412
United States United States
12617
Unknown Country Unknown Country
44
Vietnam Vietnam
1

Downloads

Algeria Algeria
1
Brazil Brazil
1
Canada Canada
1
China China
4
Czechia Czechia
1
Germany Germany
12620
Italy Italy
1
Russia Russia
1
Singapore Singapore
1
Sweden Sweden
1
Ukraine Ukraine
1241
United Kingdom United Kingdom
1
United States United States
22448
Unknown Country Unknown Country
58

Files

File Size Format Downloads
Svatiuk.pdf 244,3 kB Adobe PDF 36380

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.