Please use this identifier to cite or link to this item:
http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/4569
Or use following links to share this resource in social networks:
Tweet
Recommend this item
Title | Вибір базового класу при розпізнаванні зображень |
Authors |
Barylo, Kateryna Vasylivna
Shelekhov, Ihor Volodymyrovych |
ORCID |
http://orcid.org/0000-0003-4304-7768 |
Keywords |
розпізнавання електронограма оптимізація распознавание электронограмма оптимизация recognition electron diffraction optimization |
Type | Article |
Date of Issue | 2010 |
URI | http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/4569 |
Publisher | Видавництво СумДУ |
License | |
Citation | Шелехов, І.В. Вибір базового класу при розпізнаванні зображень [Текст] / І.В. Шелехов, К.В. Барило // Вісник Сумського державного університету. Серія Технічні науки. - 2010. - №3, Т.2. - С. 95-102. |
Abstract |
Розглядається алгоритм визначення базового класу при розпізнаванні зображень для скінченного апріорного алфавіту в рамках інформаційно-екстремальної інтелектуальної технології та досліджено його вплив на функціональну ефективність здатної навчатися системи розпізнавання образів. Алгоритм реалізовано при розпізнаванні електронограм.
При цитуванні документа, використовуйте посилання http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/4569 Рассматривается алгоритм определения базового класса при распознавании изображений для конечного априорного алфавита в рамках информационно-экстремальной интеллектуальной технологии и исследовано его влияние на функциональную эффективность способной обучаться системы распознавания образов. Алгоритм реализовано при распознавании электронограмм. При цитировании документа, используйте ссылку http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/4569 The article describes the algorithm for determining the base class for pattern recognition for the terminal alphabet by using information-extreme intelligence technology and its influence on the functional efficiency of educational systems capable of pattern recognition. The proposed algorithm is implemented in recognition of electronograms. When you are citing the document, use the following link http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/4569 |
Appears in Collections: |
Вісник Сумського державного університету. Технічні науки (2007-2014) |
Views
Belgium
1
Canada
1
China
1026047568
Denmark
1
France
500468
Germany
54416701
Hong Kong SAR China
1
Iran
1
Ireland
2055247343
Japan
1
Lithuania
1
Netherlands
500478
Russia
34
Singapore
1875081569
Sweden
1
Turkey
5
Ukraine
96013
United Kingdom
191277
United States
54416703
Unknown Country
43248
Downloads
China
54416704
France
3
Germany
54416704
India
1
Japan
1
Lithuania
1
Russia
4
Ukraine
21730
United Kingdom
1
United States
-608412295
Unknown Country
311
Files
File | Size | Format | Downloads |
---|---|---|---|
10sivkrz.pdf | 310.94 kB | Adobe PDF | -499556835 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.