Опромінення за допомогою ND: YAG лазеру тонкої спрейпіролізної плівки CZTS для заліковування структурних дефектів

Шамардін, А.В.; Істратов, М.Є.; Рекунов, Є.М.; Курбатов, Денис Ігорович; Опанасюк, Анатолій Сергійович

Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/65517

Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item

Title	Опромінення за допомогою ND: YAG лазеру тонкої спрейпіролізної плівки CZTS для заліковування структурних дефектів
Authors	Шамардін, А.В. Істратов, М.Є. Рекунов, Є.М. Kurbatov, Denys Ihorovych Opanasiuk, Anatolii Serhiiovych
ORCID	http://orcid.org/0000-0002-2754-6367 http://orcid.org/0000-0002-1888-3935
Keywords	опромінення облучение irradiation спектроскопія спектроскопия spectroscopy кестеріт сполука кестерит соединение cesterite compound
Type	Conference Papers
Date of Issue	2017
URI	http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/65517
Publisher	Сумський державний університет
License
Citation	Шамардін, А.В. Опромінення за допомогою ND: YAG лазеру тонкої спрейпіролізної плівки CZTS для заліковування структурних дефектів [Текст] / А.В. Шамардін, М.Є. Істратов, Д.І. Курбатов, А.С. Опанасюк // Фізика, електроніка, електротехніка: матеріали та програма науково-технічної конференції, м. Суми, 17-21 квітня 2017 р. / Відп. за вип. С.І. Проценко. – Суми: СумДУ, 2017. – С. 157.
Abstract	Тонкі плівки CZTS розпиляли на підігріту до T = 623 K скляну підкладку методом пульсуючого спрей-піролізу. Товщина плівки становила 1,1 мкм. Після цього зразок опромінювали в атмосфері повітря за допомогою Nd:YAG лазера з використанням другої гармоніки λ = 532 нм з інтенсивністю I = 17,5 МВт/см2 в скануючому режимі. Для вивчення фазового складу до і після лазерного відпалу використовували метод рентгенівських дифракцій і спектроскопію комбінаційного розсіювання світла. Після опромінення на спектрах комбінаційного розсіювання світла і рентгенограмах спостерігалось зменшення напівширини піків і збільшення їх інтенсивності, що говорить про покращення кристалічної якості матеріалу.
Appears in Collections:	Наукові видання (ЕлІТ)