Оптичні властивості плазмохімічних гідрогенізованих Si-C-N плівок

dc.contributor.authorКозак, А.О.
dc.contributor.authorІващенко, В.І.
dc.contributor.authorПорада, О.К.
dc.contributor.authorІващенко, Л.А.
dc.contributor.authorМалахов, В.Я.
dc.contributor.authorТоміла, Т.В.
dc.date.accessioned2015-12-01T09:56:07Z
dc.date.available2015-12-01T09:56:07Z
dc.date.issued2015
dc.description.abstractДосліджено структурні властивості та енергетичну щілину Si-C-N плівок, осаджених плазмохімічним методом з гексаметилдісилазану, в інтервалі температур 200-700 °С. Плівки були отримані на кремнієвих і скляних підкладках, що дало можливість провести рентгеноструктурне дослідження та вивчити спектри інфрачервоного (FTIR) і оптичного пропускання. Представлення широкої смуги FTIR спектрів у вигляді гаусіан свідчить, що основний внесок роблять коливання Si-C, Si-N і Si-O зв'язків. Показано, що з підвищенням температури відбувається інтенсивна ефузія водню з плівок. Енергетична щілина зменшується з 2,3 до 1,6 еВ зі зміною температури підкладки з 200 до 700 °С.ru_RU
dc.description.abstractИсследованы структурные свойства и энергетическая щель Si-C-N пленок, осажденных плазмохимическим методом из гексаметилдисилазана, в интервале температур 200-700 °С. Пленки были получены на кремниевых и стеклянных подложках, что дало возможность провести рентгеноструктурное исследование и изучить спектры инфракрасного (ИК) и оптического пропускания. Представление широкой полосы ИК спектров в виде гаусиан свидетельствует, что основной вклад вносят колебания Si-C, Si-N и Si-O связей. Показано, что с повышением температуры происходит интенсивная эффузии водорода с пленок. Энергетическая щель уменьшается с 2,3 до 1,6 эВ с изменением температуры подложки с 200 до 700 °С.ru_RU
dc.description.abstractThe structural properties and the energy gap of Si-C-N films deposited by PECVD method from hexamethyldisilazane in the temperature range of 200-700 °C were studied. The films were deposited on silicon and glass substrates that made it possible to perform the XRD analysis and study the absorption infrared (FTIR) and optical spectra. The deconvolution of main band by Gaussians indicates that the main contributions come from the vibrations of Si-C, Si-N and Si-O bonds. It is shown that an intensive effusion of hydrogen from the films occurs with increasing temperature. The band gap decreases from 2.3 to 1.6 eV as substrate temperature is changed from 200 to 700 °C.ru_RU
dc.identifier.citationА.О. Козак, В.І. Іващенко, О.К. Порада, та ін., Ж. нано- електрон. фіз. 7 № 3, 03040 (2015)ru_RU
dc.identifier.urihttp://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/42988
dc.language.isoukru_RU
dc.publisherСумський державний університетru_RU
dc.rights.uricneen_US
dc.subjectPECVDru_RU
dc.subjectГексаметилдісилазанru_RU
dc.subjectSi-C-N плівкиru_RU
dc.subjectFTIRru_RU
dc.subjectОптичні спектриru_RU
dc.subjectPECVDru_RU
dc.subjectГексаметилдисилазанru_RU
dc.subjectSi-C-N пленкиru_RU
dc.subjectFTIRru_RU
dc.subjectОптические спектрыru_RU
dc.subjectPECVDru_RU
dc.subjectHexamethyldisilazaneru_RU
dc.subjectSi-C-N filmsru_RU
dc.subjectFTIRru_RU
dc.subjectOptical spectraru_RU
dc.titleОптичні властивості плазмохімічних гідрогенізованих Si-C-N плівокru_RU
dc.title.alternativeОптические свойства плазмохимических гидрогенизированных Si-C-N пленокru_RU
dc.title.alternativeOptical Properties of PECVD Si-C-N Filmsru_RU
dc.typeArticleru_RU

Files

Original bundle

Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
Kozak.pdf
Size:
528.53 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:

License bundle

Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
license.txt
Size:
7.79 KB
Format:
Item-specific license agreed upon to submission
Description: