Substructural features of Zn(1-x)Mn(x)Te solid solution thin films

dc.contributor.authorКлимов, Олексій Володимирович
dc.contributor.authorКлимов, Алексей Владимирович
dc.contributor.authorKlymov, Oleksii Volodymyrovych
dc.contributor.authorКурбатов, Денис Ігорович
dc.contributor.authorКурбатов, Денис Игоревич
dc.contributor.authorKurbatov, Denys Ihorovych
dc.contributor.authorОпанасюк, Анатолій Сергійович
dc.contributor.authorОпанасюк, Анатолий Сергеевич
dc.contributor.authorOpanasiuk, Anatolii Serhiiovych
dc.contributor.authorДанильченко, Сергій Миколайович
dc.contributor.authorДанильченко, Сергей Николаевич
dc.contributor.authorDanylchenko, Serhii Mykolaiovych
dc.contributor.authorХляп, Г.М.
dc.contributor.authorХляп, Г.М.
dc.contributor.authorKhlyap, H.M.
dc.date.accessioned2012-10-25T11:08:38Z
dc.date.available2012-10-25T11:08:38Z
dc.date.issued2012
dc.description.abstractВ роботі проведене дослідження субструктурних характеристик плівок Zn(1-x)Mn(x)Te нанесених методом термічного випаровування у замкненому об’ємі при різних умовах конденсації. Розміри областей когерентного розсіювання (ОКР), рівень мікродеформацій, концентрація дефектів пакування в конденсатах, середня густина дислокацій на межах субзерен, в їх об’ємі та загальна визначені за фізичним уширенням дифракційних ліній з використанням апроксимації профілю рентгенівської лінії функціями Коші, Гауса та методом потрійної згортки функцій. Проведено порівняння результатів розрахунків з даними отриманими для нелегованих плівок ZnTe. Встановлено, що введення марганцю приводить до деякого погіршення субструктурних характеристик конденсатів порівняно з нелегованими шарами. При цитуванні документа, використовуйте посилання http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/29352ru_RU
dc.description.abstractВ работе проведено исследование субструктурных характеристик пленок Zn(1-x)Mn(x)Te нанесенных методом термического испарения в замкнутом объеме при различных условиях конденсации. Размеры областей когерентного рассеяния (ОКР), уровень микродеформаций, концентрация дефектов упаковки в конденсатах, средняя плотность дислокаций на границах субзерен, в их объеме и общая определены по физическим уширения дифракционных линий с использованием аппроксимации профиля рентгеновской линии функциями Коши, Гаусса и методом тройной свертки функций. Проведено сравнение результатов расчетов с данными полученными для нелегированных пленок ZnTe. Установлено, что введение марганца приводит к некоторому ухудшению субструктурного характеристик конденсатов по сравнению с нелегированной слоями. При цитировании документа, используйте ссылку http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/29352ru_RU
dc.description.abstractThe substructural characteristics of Zn(1-x)Mn(x)Te films deposited by closed space vacuum sublimation method under various condensation conditions are investigated. Sizes of the coherent scattering domain size, microdeformation degree, staking fault defects’ concentration in the condensates, the averaged dislo- cation density at the subgrain boundaries and in their bulk as well as the total dislocation concentration are determined by the physical broadening of the X-ray lines using the Cauchy and gauss approximations and the threefold function convolution method. The calculations are compared with data for undoped ZnTe. It is found out that the Mn-doping causes some degradation of structural characteristics of the condensates compared with undoped layers. When you are citing the document, use the following link http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/29352ru_RU
dc.identifier.citationSubstructural features of Zn(1-x)Mn(x)Te solid solution thin films [Текст]/ D.I. Kurbatov, O.V. Klymov, A.S. Opanasyuk, S.M. Danilchenko, H.M. Khlyap // 2nd International Conference “Nanomaterials: Applications & Properties - 2012 (NAP-2012)” (17-22 September, 2012). – Alushta, the Crimea, Ukraine, 2012. — С. 03TF23-1.ru_RU
dc.identifier.sici0000-0002-2754-6367en
dc.identifier.urihttp://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/29352
dc.language.isoenru_RU
dc.publisherSumy State University Publishingru_RU
dc.rights.uricneen_US
dc.subjectSubstructureru_RU
dc.subjectX-ray diffraction patternsru_RU
dc.subjectMicrodeformationsru_RU
dc.subjectOrientation factorru_RU
dc.titleSubstructural features of Zn(1-x)Mn(x)Te solid solution thin filmsru_RU
dc.typeThesesru_RU

Files

Original bundle

Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
ZnMnTe Substructure.pdf
Size:
744.46 KB
Format:
Adobe Portable Document Format

License bundle

Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
license.txt
Size:
7.79 KB
Format:
Item-specific license agreed upon to submission
Description: