Визначення елементного складу та розподілу елементів по поверхні плівок Pb1-xSnxS методами PIXE та µ-PIXE
No Thumbnail Available
Date
2014
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Інститут фізики напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова НАН України
Theses
Date of Defense
Scientific Director
Speciality
Date of Presentation
Abstract
Тонкі плівки твердого розчину Pb1-xSnxS можуть бути використані для створення приймачів інфрачервоного випромінювання, твердотільних лазерів та ін. Також ці плівки привертають до себе підвищену увагу дослідників як поглинаючі шари дешевих тонкоплівкових сонячних елементів, альтернативні таким традиційним матеріалам як CuInSe2, CuIn1–xGaxSe2, Cu2ZnSnS4(Se) та CdTe.
У даній роботі вивчалися плівки Pb1-xSnxTe, отримані методом гарячої стінки у вакуумі на скляних підкладках при різнф температурі нанесення. Для визначення елементного складу конденсатів використовувалося рентгенівське характеристичне випромінювання індуковане протонним пучком (методи PIXE, µ-PIXE). Відповідні дослідження проводилися на мікроаналітичному прискорювальному комплексі «Сокіл» (ІПФ, Суми, Україна) з енергією пучка протонів 1,5 МеВ.
Keywords
тонкі плівки, тонкие пленки, thin films, тверді розчини, твердые растворы, solid solutions, елементний склад, элементный состав, elemental composition
Citation
Визначення елементного складу та розподілу елементів по поверхні плівок Pb1-xSnxS методами PIXE та µ-PIXE [Текст] / П.В. Коваль, А.С. Опанасюк, І.С. Ташликов, А.Г. Пономарев // Конференція молодих вчених з фізики напівпровідників "Лашкарьовські читання 2014" (2-4 квітня 2014 р.). - Київ: Інститут фізики напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова НАН України, 2014. - C.133.