Опанасюк, Анатолій СергійовичОпанасюк, Анатолий СергеевичOpanasiuk, Anatolii SerhiiovychКоваль, Павло ВікторовичКоваль, Павел ВикторовичKoval, Pavlo ViktorovychМагилин, Д.В.Пономарьов, Олександр ГеоргійовичПономарев, Александр ГеоргиевичPonomarov, Oleksandr HeorhiiovychЧеонг, Х.2014-03-112014-03-112012Анализ элементного состава пленок CZTSе методом PIXE и m-PIXE [Текст] / А.С. Опанасюк, П.В. Коваль, Д.В. Магилин [и др.] // Тезисы докладов ХLIII международной Тулиновской конференции по физике взаимодействия заряженных частиц с кристаллами / Под ред. проф. М.И. Панасюка. – М.: Изд-во Московского университета, 2013. – C. 103.0000-0002-1888-3935http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/34063В этой работе в результате исследований элементного состава пленок CZTSe построены карты распределения элементов входящих в состав соединения по площади поверхности, а также определен элементный состав пленок в зависимости от режимов получения образцов. При цитировании документа, используйте ссылку http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/34063rucneпленки Cu2ZnSnSe4поглащающие слоиэлементный составкарты распределенияTheses