Панчеха, Петро ОлексійовичПанчеха, Петр АлексеевичPanchekha, P. O.Басов, Андрій ГеннадійовичБасов, Андрей ГеннадьевичBasov, Andrii Hennadiiovych2011-12-272011-12-272003Formation factors of stable nanocrystalline thin films / P.A.Panchekha, A.G.Basov // Functional Materials. — 2003. — Vol. 10, № 3. — Pp. 395-401.http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/22493Анализируются экспериментальные данные о концентрации и температурной стабильности межзеренных границ и дефектов упаковки в тонких пленках металлов с некристаллической структурой. Сделан вывод, что образование этих дефектов в процессе конденсации уменьшает свободную энергию тонких пленок. При цитуванні документа, використовуйте посилання http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/22493Experimental data on concentrations and temperature stability of intergrain boundaries and stacking faults in thin metal films of nanocrystalline structure are considered. The defect formation in the course of condensation has been concluded to decrease the thin film free energy. При цитировании документа, используйте ссылку http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/22493encneArticle