Please use this identifier to cite or link to this item: https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/81690
Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item
Title Феноменологічна модель формування мікрополос зсуву в рамках дислокаційно-кінетичного підходу для субмікро- і нанокристалічних матеріалів
Authors Кунцевський, Д.А.
ORCID
Keywords нанокристалічні матеріали
нанокристаллические материалы
nanocrystalline material
пластична деформація
пластическая деформация
plastic deformation
дислокації
дислокации
dislocations
Type Masters thesis
Date of Issue 2020
URI https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/81690
Publisher Сумський державний університет
License Copyright not evaluated
Citation Кунцевський, Д. А. Феноменологічна модель формування мікрополос зсуву в рамках дислокаційно-кінетичного підходу для субмікро- і нанокристалічних матеріалів : робота за здобуття кваліфікаційного ступеня магістра : спец. 153 – мікро- та наносистемна техніка / наук. кер. О. В. Ющенко. Суми : СумДУ, 2020. 64 с.
Abstract В даній роботі були розглянуті фундаментальні властивості субмікро- та нанокристалічних матеріалів. З точки зору дислокаційно-кінетичного підходу для субмікро- і нанокристалічних матеріалів теоретично обговорюється механізм локалізації деформації та феноменологічна модель формування мікросмуг зсуву при пластичній деформації.
Appears in Collections: Кваліфікаційні роботи здобувачів вищої освіти (ЕлІТ)

Views

China China
36
Germany Germany
1564
Greece Greece
1
Ireland Ireland
319
Lithuania Lithuania
1
Singapore Singapore
1
Ukraine Ukraine
45558
United Kingdom United Kingdom
17268
United States United States
146767
Unknown Country Unknown Country
1

Downloads

France France
17269
Germany Germany
1
Lithuania Lithuania
1
Poland Poland
82015
Russia Russia
1
Sweden Sweden
1
Ukraine Ukraine
211517
United Kingdom United Kingdom
1
United States United States
146767

Files

File Size Format Downloads
Kuncevskyi_mag_rob.pdf 1,31 MB Adobe PDF 457573

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.