Please use this identifier to cite or link to this item:
https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/94030
Or use following links to share this resource in social networks:
Tweet
Recommend this item
| Title | Magnetic Properties of Silicon Doped with Impurity Atoms of Europium |
| Other Titles |
Магнітні властивості кремнію, легованого домішковими атомами європію |
| Authors |
Zikrillaev, N.F.
Mavlonov, G.H. Trabzon, L. Isamov, S.B. Abduganiev, Y.A. Ibodullaev, Sh.N. Kushiev, G.A. |
| ORCID | |
| Keywords |
AFM XRD Брегг-Брентано рентгенівське випромінювання стала ґратки індекс Міллера кут Брегга Bragg-Brentano X-rays lattice constant Miller index Bragg angle |
| Type | Article |
| Date of Issue | 2023 |
| URI | https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/94030 |
| Publisher | Sumy State University |
| License | In Copyright |
| Citation | N.F. Zikrillaev, G.H. Mavlonov, L. Trabzon, et al., J. Nano- Electron. Phys. 15 No 6, 06001 (2023) DOI: https://doi.org/10.21272/jnep.15(6).06001 |
| Abstract |
Методом Ван-дер-Пау (ВДП) досліджено електричні параметри дифузійно легованих атомами європію зразків кремнію. Експериментальні результати, зокрема морфологію поверхні, досліджували за
допомогою атомно-силового мікроскопа (АСМ). Стала ґратки матеріалів була розрахована за допомогою закону Брегга-Брентано з використанням рентгенівської дифракції на рентгенограмі зразка
Si˂P,Eu˃. The electrical parameters of silicon samples diffusion doped by europium impurity atoms were studied by Van der Pauw (VDP) method. The experimental results were examined, particularly the surface morphology using an Atomic Force Microscope (AFM). The lattice constant of the materials was calculated with the help of Bragg-Brentano`s law using X-ray diffraction on the XRD pattern of the Si˂P,Eu˃ sample. |
| Appears in Collections: |
Журнал нано- та електронної фізики (Journal of nano- and electronic physics) |
Views
Ukraine
1
United States
14
Unknown Country
1
Downloads
China
1
France
1
United States
18
Files
| File | Size | Format | Downloads |
|---|---|---|---|
| Zikrillaev_jnep_6_2023.pdf | 659,33 kB | Adobe PDF | 20 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.