Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/29659
Or use following links to share this resource in social networks: Recommend this item
Title Асимметричность плотности распределения объемного неcкомпенсированного заряда на границе металлургического p-n перехода
Authors Мазинов, А.С.
Шевченко, А.И.
Быков, М.А.
ORCID
Keywords мелкозалегающий p-n переход
профиль легирования кристалла
коэффициент диффузии
энергия активации диффузии
плотность распределения заряда
нескомпенсированный заряд p-n перехода
Type Article
Date of Issue 2012
URI http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/29659
Publisher Сумской государственный университет
License
Citation А.С. Мазинов, А.И. Шевченко, М.А.Быков, Ж. Нано- Электрон. Физ. 4 № 3, 03026 (2012)
Abstract В работе рассмотрены особенности формирования мелкозалегающего перехода и его расчета для создания фотогальванического элемента на основе монокристаллического кремния с фронтальным легированным бором. Показана неоднозначность расчетных профилей перекомпенсирующей примеси, которая зависит от точности определения констант диффузионных уравнений. При цитировании документа, используйте ссылку http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/29659
Appears in Collections: Журнал нано- та електронної фізики (Journal of nano- and electronic physics)

Views

Canada Canada
1
China China
4
Germany Germany
88851
Iran Iran
1
Ireland Ireland
13014
Lithuania Lithuania
1
Netherlands Netherlands
2
Russia Russia
40
Turkey Turkey
9
Ukraine Ukraine
653986
United Kingdom United Kingdom
329363
United States United States
177693
Unknown Country Unknown Country
63

Downloads

China China
9
Germany Germany
2
Ireland Ireland
1
Kazakhstan Kazakhstan
1
Russia Russia
12
Ukraine Ukraine
1263029
United Kingdom United Kingdom
1
United States United States
1263029
Unknown Country Unknown Country
151

Files

File Size Format Downloads
Mazinov.pdf 236,07 kB Adobe PDF 2526235

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.