The Surface Morphology of CdTe Thin Films Obtained by Open Evaporation in Vacuum

Abstract

The different thicknesses CdTe thin films were obtained by method of open evaporation in vacuum on glass and silicon (100) substrates. The surface of films was investigated by AFM analysis. Applying the two-dimensional discrete Fourier transform and autocorrelation function, for the first time the patterns of the structure of the surface of cadmium telluride thin films formed during the vapor phase of condensation are studied. A periodic object grid is discovered. The grid period is related to the mismatch between lattice parameters of substrate and condensate.

Тонкие пленки CdTe различной толщины получено методом открытого испарения в вакууме на подложках из стекла и кремния (100). Исследована поверхность пленок с помощью АСМ анализа. Применяя двумерные дискретное преобразование Фурье и авто-корреляционною функцию впервые изучены закономерности структуры поверхности тонких пленок кадмий теллурида сформированных в процессе паро фазной конденсации. Выявлено периодическую сетку объектов. Период сетки связан с несогласования решеток подложки и конденсата.

Тонкі плівки CdTe різної товщини отримано методом відкритого випаровування у вакуумі на підклад- ках із скла і кремнію (100). Досліджено поверхню плівок за допомогою АСМ аналізу. Застосовуючи двови- мірні дискретне перетворення Фур’є та авто-кореляційну функцію вперше вивчено закономірності структу- ри поверхні тонких плівок кадмій телуриду сформованих у процесі паро фазної конденсації. Виявлено пе- ріодичну сітку об’єктів. Період сітки пов’язаний з неузгодження решіток підкладки і конденсату.