Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/67380
Title: Тензорезистивні властивості плівкових наноструктур на основі пермалою та срібла
Other Titles: Strain Properties of Thin Film Nanostructures Based on Permalloy and Silver
Authors: Шуляренко, Д.О.
Pylypenko, Oleksandr Valeriiovych
Пилипенко, Александр Валерьевич
Tyshchenko, Kostiantyn Volodymyrovych
Pazukha, Iryna Mykhailivna 
Odnodvorets, Larysa Valentynivna
Keywords: тонкоплівкова наноструктура
одночасна конденсація
тензорезистивні властивості
концентраційна залежність
thin film nanostructures
сo-evaporation
strain properties
сoncentration dependence
Issue Year: 2018
Publisher: Сумський державний університет
Citation: Тензорезистивні властивості плівкових наноструктур на основі пермалою та срібла [Текст] / Д.О. Шуляренко, О.В. Пилипенко, К.В. Тищенко, Л.В. Однодворець // Журнал нано- та електронної фізики. – 2018. – Т.10, № 1. – 01011. - DOI: 10.21272/jnep.10(1).01011.
Abstract: У роботі представлені результати дослідження тензорезистивних властивостей (інтегральний) і диференціальний (коефіцієнти тензочутливості) тонкоплівкових наноструткур на основі пермалою Ni80Fe20 (Ру) та срібла (Ag), отриманих одночасною конденсацією компонент з двох незалежних джерел, а також дані для складових компонентів системи. Визначені основні закономірності тензорезистивних властивостей Py та Ag у діапазоні товщин d = 10-60 нм. Показано, що на концентраційних залежностях (спостерігається максимум при сAg  30-35 aт.%, прояв якого пов’язаний зі структурними зміна в плівковій системі, пов’язаними зі змінами характеру розподілу кристалітів та їх середнього розміру при зміні концентрації компонент.
The results of investigation strain properties (integral int and differential (dif strain coefficients) of thin film nanostructures based on permalloy Ni80Fe20 (Ру) silver (Ag), prepared by method of coevaporation from independent sources, and results for components of the systems are presented. The main peculiarities of Py and Ag strain properties in the range of thicknesses d 10-60 nm are determinate. It has been shown that the maximum at the сAg 30-36 at.% is observed at the concentration dependences of ()int. The presence of a maximum is due to the structural changes in the film systems.
URI: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/67380
Type: Article
Appears in Collections:Журнал нано- та електронної фізики (Journal of nano- and electronic physics)

Views
Other22
Germany1
United States1
Downloads
Other4
Germany1
Ukraine3


Files in This Item:
File Description SizeFormatDownloads 
Shuliarenko_jnep_V10_01011.pdf437.48 kBAdobe PDF8Download


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.