Please use this identifier to cite or link to this item: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/72755
Title: X-ray Investigation of SiC Nanostructure on Cu Films
Other Titles: Рентгенівське дослідження наноструктури SiC на плівках Cu
Authors: Suyundykova, G.S.
Mansurov, B.Z.
Partizan, G.
Kenzhegulov, А.K.
Medyanova, B.S.
Aliev, B.A.
Nakysbekov, Zh.T.
Zhumadilov, B.E.
Keywords: карбід кремнію
хімічне осадження парів
мікрохвильова плазма
метод скануючої електронної мікроскопії
рентгенівський аналіз
silicon carbide
chemical vapor deposition
microwave plasma
method of scanning Electron microscopy
X-ray analysis
Issue Year: 2019
Publisher: Sumy State University
Citation: X-ray Investigation of SiC Nanostructure on Cu Films [Текст] / G.S. Suyundykova, B.Z. Mansurov, G. Partizan [et al.] // Журнал нано- та електронної фізики. - 2019. - Т.11, № 2. - 02002. - DOI: 10.21272/jnep.11(2).02002
Abstract: У статті представлені результати рентгенографічного дослідження наноструктур карбіду кремнію, синтезованих методом мікрохвильового хімічного пароутворення (MWCVD). Мідні плівки, нанесені методом магнетронного розпилення, використовувалися як каталізатори. Експерименти проводили при різних температурах від 600 °С до 900 °С (з кроком 100 °С). SEM дослідження зразків показали, що наноструктури мають діаметр 180-400 нм і довжину від 670 нм до 1.5 мкм. З досліджень скануючою електронною мікроскопією видно, що синтезовані наноструктури мають шорстку поверхню. Аналіз результатів експериментів з синтезу наноструктур карбіду кремнію методом MWCVD показує, що зростання наноструктур починається від 700 °С. Слід підкреслити, що інтенсивність піку SiC зростає зі збільшенням температури синтезу. Крім того, при збільшенні температури синтезу можна помітити, що з'являються піки наступного відбиття, характерні для карбіду кремнію. Результати рентгенівського аналізу показали, що зразки, вирощені при температурі 900 °С, мають найвищу ступінь кристалічності. Результати досліджень з використанням методів скануючої електронної мікроскопії і рентгенівського аналізу показали, що в ході експериментів, крім наноструктур карбіду кремнію, були отримані різні вуглецеві форми. Таким чином, при температурі 600 °С утворюються аморфні вуглецеві плівки, а при 700 °С утворюються наноструктури карбіду кремнію.
This article presents the X-ray investigation results of the silicon carbide nanostructures which were synthesized by the method of Microwave Enhanced Chemical Vapor Deposition (MWCVD). The copper films deposited by the method of magnetron sputtering were used as catalysts. The experiments were performed at different temperatures from 600 to 900 °C (in 100 °C increments). SEM studies of the samples showed that the nanostructures have a diameter of 180-400 nm and a length from 670 nm to 1.5 microns. It is also seen from SEM studies that synthesized nanostructures have a rough surface. Analysis of the results of experiments on the synthesis of silicon carbide nanostructures using the MWCVD method shows that the growth of nanostructures starts from 700 °C. It should be emphasized that the intensity of the SiC peak increases with increasing synthesis temperature. Moreover, with increasing synthesis temperature it can be noticed that the next reflection peaks characteristic of silicon carbide appear. The results of X-ray analysis showed that samples grown at a temperature of 900 °C have the highest crystallinity. The results of research using the methods of SEM and X-ray demonstrated that, in the course of experiments, in addition to silicon carbide nanostructures, various carbon formations were obtained. Thus, at a temperature of 600 °C, amorphous carbon films are formed, while at 700 °C nanostructures of silicon carbide are formed.
URI: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/72755
Type: Article
Appears in Collections:Журнал нано- та електронної фізики (Journal of nano- and electronic physics)

Views
Other5
Downloads
Other4


Files in This Item:
File Description SizeFormatDownloads 
Suyundykova_jnep_2_2019.pdf489.07 kBAdobe PDF4Download


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.