Журнал нано- та електронної фізики (Journal of nano- and electronic physics)
Permanent URI for this collectionhttps://devessuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/197
Browse
Search Results
Item Структура і елементний склад плівок Pb1 – xSnxS(Сумський державний університет, 2015) Коваль, Павло Вікторович; Коваль, Павел Васильевич; Koval, Pavlo Viktorovych; Опанасюк, Анатолій Сергійович; Опанасюк, Анатолий Сергеевич; Opanasiuk, Anatolii Serhiiovych; Туровець, А.І.; Ташликов, І.С.; Пономарьов, Олександр Георгійович; Пономарев, Александр Георгиевич; Ponomarov, Oleksandr Heorhiiovych; Жуковські, П.В роботі методами дифрактометрії, растрової і атомно-силової мікроскопії, рентгенівського характеристичного випромінювання індукованого сфокусованим протонним пучком (PIXE), Резерфордівського зворотного розсіювання іонів гелію-4 проведено дослідження плівок твердих розчинів Pb1 – xSnxS, нанесених методом «гарячої стінки». Встановлено, що шари отримані в інтервалі температур конденсації Ts = (268-382) °C, мають практично однофазну кристалічну структуру орторомбічної модифікації з параметрами гратки, які знаходяться у діапазоні a = (0,4214-0,4293) нм, b = (1,1246-1,1313) нм с = (0,3980-0,4015) нм. Розміри областей когерентного розсіювання в плівках складають L(040) = (35,5- 47,5) нм, L(131) = (44,4-51,5) нм. Досліджено розподіл компонентів сполуки за площею плівок (ϻ-PІXE), а також визначено їх елементний склад (PІXE). Встановлено, що отримані зразки дещо збіднені сіркою в порівнянні зі стехіометричним складом. Атомна концентрація компонентів, що входять до складу твердого розчину, змінюється в інтервалі СPb = 12,71-19,13; CSn = 40,29-44,46; CS = 38,36-42,75 ат. %. При збільшенні температури підкладки вміст свинцю в плівках збільшується, а сірки зменшується, атомна концентрація олова при цьому змінюється слабко.