Журнал нано- та електронної фізики (Journal of nano- and electronic physics)
Permanent URI for this collectionhttps://devessuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/197
Browse
5 results
Search Results
Item Study of the Elemental Composition of Thin Nanocrystalline Films of CoNi and FeNi Alloys by X-ray Spectral Microanalysis(Sumy State University, 2025) Loboda, V.B.; Khursenko, S.M.; Kravchenko, V.O.; Zubko, V.M.; Chepizhnyi, A.V.У статті наведено результати дослідження елементного складу нанокристалічних плівок сплавів CoNi та FeNi методом рентгенівського мікроаналізу (рентгенівський мікроаналізатор на базі спектрометра з дисперсією за енергією, що входить до складу растрового електронного мікроскопа РЕМ-103- 01). Плівки сплавів завтовшки 10-200 нм були отримані конденсацією випарених вихідних масивних бінарних сплавів CoNi та FeNi у вакуумі 10-4 Па. Сплави CoNi випаровувалися електронно-променевим способом за допомогою електронної діодної гармати зі швидкістю конденсації 0,5-1,5 нм/с. Чистота вихідних металів Co та Ni становила не менше 99,9 %. Концентрації компонент плівок сплаву CoNi змінювалися в широкому діапазоні. Плівки сплаву FeNi були отримані в результаті випаровування технічного сплаву пермалою 50Н. Характеристичний рентгенівський спектр речовини плівки збуджувався при скануванні електронним пучком ділянки плівки розмірами 300 300 мкм; для товстіших плівок розмір ділянки сканування становив 1 1 мкм. Як еталони при проведенні кількісних вимірювань елементного складу плівок сплавів певної товщини використовувалися тонкі плівки Ni такої ж товщини. Результати рентгенівського мікроаналізу свідчать про високу чистоту плівок. Зіставлення результатів вимірювань рентгенівським мікроаналізом концентрацій вихідних сплавів та отриманих плівок показало їх збіг у межах похибки аналізуItem Fabrication of CdSe/Si Thin Films Solar Cell by CBD(Sumy State University, 2024) Najim, S.A.Кремнієвий напівпровідник p-типу використовується як поглинаючий шар в сонячних елементах. У цій роботі було досліджено вплив товщини CdSe (0,1, 0,5, 1, 1,5, 2, 2,5, 3 нм) на електричні параметри та ефективність перетворення сонячних елементів CdSe/Si, виготовлених методом хімічного осадження у ванні, до та після відпалу при 873 К протягом однієї години. Було виявлено, що щільність струму короткого замикання, напруга холостого ходу та ефективність перетворення збільшуються зі збільшенням товщини CdSe. Максимальне значення ефективності досягало приблизно 5,31% при товщині CdSe 3 нм. Після відпалу ефективність перетворення була покращена і склала 8,74%. Додатково досліджені характеристики щільності струму напруги сонячної батареї в темряві. Було виявлено, що інтенсивність для всіх піків зменшується після процесу відпалу при температурі 873 К.Item Synthesis of Surface Nanostructures of Silver Sulfide in Argon at Atmospheric Pressure in a Gas Discharge(Sumy State University, 2024) Shuaibov, O.K.; Minya, O.Y.; Hrytsak, R.V.; Malinina, A.O.; Malinin, O.M.; Holomb, R.M.; Pogodin, A.I.; Homoki, Z.T.У роботі досліджено характеристики наносекундного перенапруженого розряду в аргоні, що виникає між електродами, виготовленими з суперіонного провідника – сульфіду срібла (Ag2S). Розряд ініціювався під тиском аргону в діапазоні від 13,3 до 101 кПа з відстанню між полікристалічними електродами Ag2S 2 мм. Деградація електродного матеріалу в розряді, поряд з проникненням парів Ag2S в міжелектродний простір, відбувалася внаслідок мікровибухів, спричинених нерівностями поверхні електродів. Така конфігурація розряду має потенціал як плазмохімічний реактор для синтезу тонких плівок на основі сульфіду срібла. Крім того, в роботі представлено результати аналізу спектрів комбінаційного розсіяння лазерного випромінювання, що взаємодіє з плівками, синтезованими на основі сполуки Ag2S.Item Synthesis by Organic Solar Cells SnO2 Thin Films for Gas Sensing(Sumy State University, 2024) Aoun, Y.; Benramache, S.; Maaoui, B.; Sbaihi, A.У роботі тонкі плівки SnO2 були синтезовані на скляній підкладці пневматичним методом розпилення з 0,1 М з використанням дегідрату хлориду олова при 450 °C органічними сонячними елементами. Досліджено вплив швидкості осадження (5, 10 і 15 мл) на структурні, оптичні та електричні властивості SnO2. Було виявлено, що розроблені тонкі плівки SnO2 мають полікристалічну структуру з максимальним розміром кристалітів 35,3 нм на 10 мл. Коефіцієнт пропускання тонких плівок SnO2 зменшувався і збільшувався зі збільшенням швидкості SnO2 у видимій області і становив близько 60%, оптична енергія забороненої зони збільшувалася зі збільшенням швидкості SnO2 від 3,2 еВ для 5 мл до 3,6 еВ для 15 мл. Електропровідність була збільшена з 0,01 (Ω∙см) – 1 для 05 мл SnO2 до 0,06 (Ω∙см) для 15 мл SnO2. Підготовлена тонка плівка SnO2 може бути використана для датчиків газу.Item SIMS Analysis of Copper-Nickel Thin Films Alloys(Sumy State University, 2024) Loboda, V.B.; Zubko, V.M.; Khursenko, S.M.; Saltykova, A.I.; Chepizhnyi, A.V.У статті наведено результати дослідження елементного та ізотопного складу плівок сплавів на основі Cu і Ni методом вторинно-іонного мас-спектрометричного аналізу (вторинно-іонний масспектрометр МС-7201 М). Плівки сплавів товщинами до 130 нм були отримані на скляних полірованих підкладках з попередньо нанесеним буферним шаром Al одночасним роздільним випаровуванням компонент у вакуумі 10-4 Па. Мідь випаровувалася зі стрічки з вольфрамової фольги товщиною 0,05 мм. Нікель випаровувався електронно-променевим способом за допомогою електронної діодної гармати. Швидкість конденсації становила 0,5-1,5 нм/с. Чистота випаровуваних металів становила щонайменше 99,98%. В якості зондууючих первинних іонів використовувалася іони Ar+ з енергією 5 кеВ. Результати якісного мас-спектрометричного аналізу вторинних іонів свідчать про високу чистоту плівок (відсутність гідридів, оксидів і карбідів Cu та Ni). Елементний склад плівок представлений ізотопами Ni58, Ni60 та Cu63, Cu65. Відношення ізотопних інтенсивностей складають INi 58/INi 60 = 2,6 та ICu 63/ICu 65 = 2,3, що відповідає природній поширеності ізотопів нікелю та міді. Відношення ізотопних інтенсивностей ICu 63/INi 58 практично не змінюється по всій товщині зразка. Було показано, що методом вторинно-іонної масспектрометрії можна проводити також і кількісний аналіз елементного складу плівкових сплавів.