Журнал нано- та електронної фізики (Journal of nano- and electronic physics)
Permanent URI for this collectionhttps://devessuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/197
Browse
2 results
Search Results
Item Формування багатошарових упорядкованих масивів магнітних наночастинок CoFe2O4(Сумський державний університет, 2017) Чешко, Ірина Володимирівна; Чешко, Ирина Владимировна; Cheshko, Iryna Volodymyrivna; Бездідько, Олександр Валерійович; Бездидько, Александр Валерьевич; Bezdidko, Oleksandr Valeriiovych; Логвинов, Андрій Миколайович; Логвинов, Андрей Николаевич; Lohvynov, Andrii Mykolaiovych; Проценко, Сергій Іванович; Проценко, Сергей Иванович; Protsenko, Serhii IvanovychЗа результатами експериментального дослідження структурних, морфологічних, еліпсометричних та спектрофотометричних властивостей одно- та багатошарових (до 4-х шарів) упорядкованих масивів магнітних наночастинок CoFe2O4 показана ефективність методики їх формування з використанням методу Ленгмюра-Блоджетт та послідуючим відпалюванням у вакуумі до температур Тв = 520-1100 К. Показано, що за значеннями величини поверхневого натягу Р < 10 мН/м формуються несуцільні кластерні масиви наночастинок, а для етапу формування суцільних масивів характерні високі значення Р > 30 мН/м.Item Ellipsometric Studies on Silver Telluride Thin Films(Видавництво СумДУ, 2011) Pandiaraman, M.; Soundararajan, N.; Kumar, C.; Ganesan, R.Silver telluride thin films of thickness between 45 nm and 145 nm were thermally evaporated on well cleaned glass substrates at high vacuum better than 10 – 5 mbar. Silver telluride thin films are polycrystalline with monoclinic structure was confirmed by X-ray diffractogram studies. AFM and SEM images of these films are also recorded. The phase ratio and amplitude ratio of these films were recorded in the wavelength range between 300 nm and 700 nm using spectroscopic ellipsometry and analysed to determine its optical band gap, refractive index, extinction coefficient, and dielectric functions. High absorption coefficient determined from the analysis of recorded spectra indicates the presence of direct band transition. The optical band gap of silver telluride thin films is thickness dependent and proportional to square of reciprocal of thickness. The dependence of optical band gap of silver telluride thin films on film thickness has been explained through quantum size effect. When you are citing the document, use the following link http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/23715