Наукові роботи студентів, магістрів, аспірантів (ЕлІТ)
Permanent URI for this collectionhttps://devessuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/150
Browse
19 results
Search Results
Item Cтруктурні та субструктурні характеристики нанокристалів і плівок ZnO для використання у сонячній енергетиці(Дніпровський національний університет імені Олеся Гончара, 2020) Доброжан, Олександр Анатолійович; Доброжан, Александр Анатольевич; Dobrozhan, Oleksandr Anatoliiovych; Кахерський, Станіслав Ігорович; Кахерский, Станислав Игорович; Kakherskyi, Stanislav Ihorovych; Пшеничний, Роман Миколайович; Пшеничный, Роман Николаевич; Pshenychnyi, Roman Mykolaiovych; Опанасюк, Анатолій Сергійович; Опанасюк, Анатолий Сергеевич; Opanasiuk, Anatolii SerhiiovychСеред матеріалів, які використовуються для створення віконних шарів тонкоплівкових перетворювачів сонячної енергії, широкого поширення набула напівпровідникова сполука ZnO, яка характеризується унікальними фізико-хімічними властивостями для застосування в фотовольтаїці. До них відносяться: елика ширина забороненої зони, прозорість у видимій області спектра, екологічність, висока термічна і хімічна стабільність.Item Наночорнила на основі оксиду цинку для дво- та тривимірного друку активних елементів сенсорів(Астропринт, 2018) Опанасюк, Анатолій Сергійович; Опанасюк, Анатолий Сергеевич; Opanasiuk, Anatolii Serhiiovych; Гузенко, Олександр Ігорович; Гузенко, Александр Игоревич; Huzenko, Oleksandr Ihorovych; Доброжан, Олександр Анатолійович; Доброжан, Александр Анатольевич; Dobrozhan, Oleksandr Anatoliiovych; Степаненко, Андрій Олександрович; Степаненко, Андрей Александрович; Stepanenko, Andrii Oleksandrovych; Данильченко, П.С.Напівпровідникова сполука оксиду цинку (ZnO) завдяки оптимальним фізичним властивостям, високій термічній, хімічній стабільності, екологічності є перспективним матеріалом для створення чутливих елементів сенсорів газів, рідин, УФ випромінювання, температури, вологості, тощо.Item Substructural Properties and Anisotropic Peak Broadening in Zn(1-x)MnxTe Films Determined by a Combined Methodology Based on SEM, HRTEM, XRD, and HRXRD(Springer, 2016) Martinez-Tomas, С.; Климов, Олексій Володимирович; Климов, Алексей Владимирович; Klymov, Oleksii Volodymyrovych; Agouram, S.; Курбатов, Денис Ігорович; Курбатов, Денис Игоревич; Kurbatov, Denys Ihorovych; Опанасюк, Анатолій Сергійович; Опанасюк, Анатолий Сергеевич; Opanasiuk, Anatolii Serhiiovych; Muñoz-Sanjosé, V.Lattice deformation and extended defects such as grain boundaries and dislocations affect the crystalline quality of films and can dramatically change material’s properties. In particular, magnetic and optoelectronic properties depend strongly on these structural and substructural characteristics. In this paper, a combined methodology based on SEM, HRTEM, XRD, and HRXRD measurements is used to determine and assess the structural and substructural characteristics of films. This combined methodology has been applied to Zn1-xMnxTe films grown on glass substrates by close-spaced vacuum sublimation. Nevertheless the methodology can be applied to a wide variety of materials and could become a useful characterization method which would be particularly valuable in semiconductor growth field. The knowledge of the structural and substructural characteristics can allow not only the optimization of growth parameters, but also the selection of specific samples having the desired characteristics (crystallite size, minimum dislocation content, etc.) for high-quality technological devices.Item Surface Morphology, Structural and Optical Properties of MgO Films Obtained by Spray Pyrolysis Technique(Acta Physica Polonica A, 2016) Д`яченко, Олексій Вікторович; Дьяченко, Алексей Викторович; Diachenko, Oleksii Viktorovych; Опанасюк, Анатолій Сергійович; Опанасюк, Анатолий Сергеевич; Opanasiuk, Anatolii Serhiiovych; Курбатов, Денис Ігорович; Курбатов, Денис Игоревич; Kurbatov, Denys Ihorovych; Опанасюк, Надія Миколаївна; Опанасюк, Надежда Николаевна; Opanasiuk, Nadiia Mykolaivna; Kononov, O.K.; Cheong, H.; Nam, D.X-ray diffraction, atomic force microscopy, field emission scanning electron microscopy, UV-visible photometry, and photoluminescence measurements were used to investigate the surface morphology and structural and optical properties of MgO films. Magnesium oxide films deposited by the spray pyrolysis technique were studied. The substrate temperature was varied from Ts = 643 K to 693 K. Magnesium chloride hexahydrate (MgCl2 .6H2O), dissolved in deionized water, was used as the precursor solution. It was established that the single phase films crystallize into a cubic structure with very fine crystallite size (about 2 nm). The optical band gaps of the samples were varied from 3.64 eV to 3.70 eV. Also, the films have a high level of transmittance of 90%. Photoluminescence spectra show the emission peaks at approximately 412 nm (3.00 eV) and 524 nm (2.38 eV). The peak with the energy of 3.00 eV is ascribed to holes trapped in magnesium ion vacancies acting as acceptors (F+ center). The broad emission peak at 524 nm is related to the presence of defects (F- centers) associated with oxygen ion vacancies.Item Luminescent and optical characteristics of Zinc Sulfide thin films produced by close-spaced vacuum sublimation(Romanian Academy published by Editura Academiei Romane, 2010) Курбатов, Денис Ігорович; Курбатов, Денис Игоревич; Kurbatov, Denys Ihorovych; Опанасюк, Анатолій Сергійович; Опанасюк, Анатолий Сергеевич; Opanasiuk, Anatolii Serhiiovych; Кшнякіна, Світлана Іванівна; Кшнякина, Светлана Ивановна; Kshniakina, Svitlana Ivanivna; Мельник, В.; Мельник, В.; Mеlnik, V.; Несправа, В.; Несправа, В.; Nesprava, V.The luminescent and optical characteristics of ZnS thin films produced by close-spaced vacuum sublimation technique (CSVS) were investigated in this work. Luminescent and optical investigations allowed determining the fluorescence centers of native defects and uncontrolled impurities.Item Исследование содержания кислорода в пленках сульфида цинка методом резерфордовского обратного рассеяния(Российская академия наук. Издательство “Наука”, 2010) Крамченков, А.Б.; Крамченков, А.Б.; Kramchenkov, A.B.; Курбатов, Денис Ігорович; Курбатов, Денис Игоревич; Kurbatov, Denys Ihorovych; Захарець, М.І.; Захарец, М.И.; Zakharets, M.I.; Опанасюк, Анатолій Сергійович; Опанасюк, Анатолий Сергеевич; Opanasiuk, Anatolii SerhiiovychМетодом резерфордовского обратного рассеяния ионов определено содержание кислорода в пленках ZnS, полученных сублимацией в замкнутом объеме при разных температурах конденсации. Измерения проводились как на исходных образцах, так и после их отжига на воздухе. Для получения спектров рассеяния частиц был использован пучок протонов с начальной энергией 1 МэВ и углом рассеяния θ = 135°.Item Study of the structural and photoluminescence properties of CdTe polycrystalline films deposited by closed space vacuum sublimation(Elsevier, 2010) Косяк, Володимир Володимирович; Косяк, Владимир Владимирович; Kosiak, Volodymyr Volodymyrovych; Опанасюк, Анатолій Сергійович; Опанасюк, Анатолий Сергеевич; Opanasiuk, Anatolii Serhiiovych; Bukivskyi, P.M.; Hnatenko, Y.P.The polycrystalline CdTe films were deposited by the close-spaced vacuum evaporation at the different substrate temperatures (150–550 °C). The X-ray diffraction measurements of structural and substructural properties of these films were carried out to study their phase composition and texture. The films’ parameters such as the coherent scattering domain size, microdeformation level and mean density of dislocations were determined based on the broadening of diffraction peaks. In this case the Hall and three-fold convolution approximations were used. Surface morphology, grain size and growth mechanism of the films were determined by the scanning electron microscopy. The low temperature photoluminescence measurements allowed us to establish the correlation between the point and extended defect structure on the one hand and the growth conditions on the other. As a result, the growth conditions of CdTe polycrystalline films with fairly good crystal and optical quality were determined.Item Characterization Cupper Oxide thin films(Львівський національний університет ім. Івана Франка, 2015) Д`яченко, Олексій Вікторович; Дьяченко, Алексей Викторович; Diachenko, Oleksii Viktorovych; Опанасюк, Анатолій Сергійович; Опанасюк, Анатолий Сергеевич; Opanasiuk, Anatolii Serhiiovych; Nam, D.; Cheong, H.For obtaining of the CuO thin films have used spray pyrolysis method. Glass plates were cleaned in ultrasonic bath and washed with ethanol, used as a substrates. We used an aqueous solution of copper chloride (CuCl22H2O) with a concentration of 0.05 M as a precursor. The substrate temperature range from 570 to 720 K, with step Т=50 K. For atomization of precursor the air flow with a pressure of 0.25 MPa was used.Item Структурні та субструктурні характеристики твердих розчинів ZnOхS1-x(Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова, 2015) Бересток, Т.О.; Опанасюк, Анатолій Сергійович; Опанасюк, Анатолий Сергеевич; Opanasiuk, Anatolii SerhiiovychДля отримання твердих розчинів ZnOxS1-x був використаний безвакуумний низькотемпературний метод хімічного осадження з водного розчину, який відрізняється простотою, економічністю та можливістю отримання конденсатів з контрольованими структурними властивостями - суцільних плівок, нанониток і наноточок. Як вихідні прекурсори використовувалися розчини нітрату цинку ((Zn(NO3)2)) та тіамочевини (CS(NH2)2).Item Оптичні властивості плівок ZnxCd1-xS, отриманих методом вакуумного випаровування(ПП Щербатих О.В. (Дніпропетровський національний університет імені Олеся Гончара), 2016) Єрьоменко, Юрій Сергійович; Еременко, Юрий Сергеевич; Yeromenko, Yurii Serhiiovych; Возний, Андрій Андрійович; Возный, Андрей Андреевич; Voznyi, Andrii Andriiovych; Опанасюк, Анатолій Сергійович; Опанасюк, Анатолий Сергеевич; Opanasiuk, Anatolii SerhiiovychВ даній роботі досліджувався вплив концентрації цинку x на оптичні властивості (спектри пропускання, відбивання та ін.) плівок твердого розчину ZnxCd1-xS, отриманих методом вакуумного випаровування у КЗО.