Видання зареєстровані авторами шляхом самоархівування
Permanent URI for this communityhttps://devessuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/1
Browse
2 results
Search Results
Item Ионно-плазменная модификация титановых сплавов(Харьковский физико-технический институт, 2011) Братушка, Сергій Миколайович; Bratushka, Serhii Mykolaiovych; Братушка, Сергей Николаевич; Маликов, Л.В.Рассмотрено современное состояние работ по модификации свойств поверхности титана и его сплавов, исследованию процессов легирования и фазообразования элементов. Обсуждается влияние вида и материала обработки на свойства поверхности материалов на основе титана. Анализируются структура и свойства за-щитных покрытий, полученных посредством воздействия плазменно-детонационной обработки. Рассмотрено перспективное направление формирования комбинированных покрытий, их структура и свойства изучены на примере титановых сплавов. Показана возможность управления процессом модификации поверхности с помощью воздействия импульсных плазменных струй. Проанализированы физические факторы, влияющие на процессы модификации и на структуру и свойства получаемых покрытий.Item Структура и свойства оксидных покрытий, полученных электролитно-плазменным оксидированием на подложке из Al-Cu и Al-Mg сплавов(Харьковский национальный университет им. В.Н. Каразина, 2008) Братушка, Сергій Миколайович; Братушка, Сергей Николаевич; Bratushka, Serhii Mykolaiovych; Погребняк, Олександр Дмитрович; Погребняк, Александр Дмитриевич; Pohrebniak, Oleksandr Dmytrovych; Кылышканов, М.К.; Плотников, С.В.; Понарядов, В.В.; Тюрин, Ю.Н.; Шипиленко, Андрій Павлович; Шипиленко, Андрей Павлович; Shypylenko, Andrii PavlovychВ работе представлены результаты новых исследований по созданию защитных оксидных покрытий на основе Al2O3(Si, Mn) на сплавах алюминия с помощью электролитно-плазменного оксидирования. Анализ, проведенный с помощью растровой электронной микроскопии SEM с EDS (энергодисперсным микроанализом), рентгено-фазового анализа (XRD), резерфордовского обратного рассеяния ионов (RBS) ионов 4He+ и протонов, показал, что формируются хорошего качества покрытия с высокой твердостью и стойкостью к износу, а также малой температуропроводности. Показано, что наряду с Al2O3, в покрытии находятся Si, Mn, C и Ca. Определена стехиометрия данного покрытия. Плотность и твердость покрытия близка по значениям к a-фазе Al2O3 в покрытии на подложке D-16, а на покрытии, осажденном на подложке S006, в 1,5 раза меньше.