Факультет електроніки та інформаційних технологій (ЕлІТ)
Permanent URI for this communityhttps://devessuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/20
Browse
6 results
Search Results
Item Electroconductivity and tensosensibility of multilayer films(1998) Protsenko, Ivan Yukhymovych; Odnodvorets, Larysa Valentynivna; Chornous, Anatolii Mykolaiovych; Проценко, Іван Юхимович; Проценко, Иван Ефимович; Однодворець, Лариса Валентинівна; Однодворец, Лариса Валентиновна; Чорноус, Анатолій Миколайович; Чорноус, Анатолий НиколаевичThe experimental-research results for a size effect on the thermal coefficient of resistance (TCR) and coefficient of longitudinal-strain sensitivity (CS) of two-layer and multilayer structures based on Cr, Co, Ni, and Mo are discussed. The results obtained are in satisfactory agreement with microscopic and macroscopic theoretical models. The diagrams in the co-ordinates "TCR—thickness" and "CS—thickness" are plotted. When you are citing the document, use the following link http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/1013Item Experimental Test of a Three-Dimensional Model for Electrophysical Properties of Metal Films(The Japan Society of Applied Physics, 2000) Chornous, Anatolii Mykolaiovych; Opanasiuk, Nadiia Mykolaivna; Pohrebniak, Oleksandr Dmytrovych; Protsenko, Ivan Yukhymovych; Чорноус, Анатолій Миколайович; Чорноус, Анатолий Николаевич; Проценко, Іван Юхимович; Проценко, Иван Ефимович; Опанасюк, Надія Миколаївна; Опанасюк, Надежда Николаевна; Погребняк, Олександр Дмитрович; Погребняк, Александр ДмитриевичA three-dimensional model of strain sensitivity proposed by [Tellier, Tosser: Thin Solid Films 59 (1979) 163; Tosser, Tellier and Pichard: J. Mater. Sci. 16 (1981) 944] has been tested for thin Cr, Cu and Co films. The films were obtained by electron-beam evaporation in a vacuum of 10-4 – 10-5 Pa. Film structure stabilization was carried out by heating and cooling at the rate of 3 K/min in the range of 300 to 520 K. The identity of properties of the films obtained on the glass (during the thermal coefficient of resistance (TCR) measuring) and the textolite glass (during the strain-sensitivity coefficient (SSC) measuring) substrates was examined according to Vand method on lattice distortion energy spectra for films of different thickness, where the spectra were calculated from the resistance-temperature data. It has been shown that the experimental results of the strain sensitivity agree with the calculated ones only under the assumption of size dependence of the electron mean-free path. When you are citing the document, use the following link http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/846Item Вплив ступеню дисперсності кристалітів на параметри електропереносу металевих матеріалів(Прикарпатський національний університет імені Василя Стефаника, 2003) Білоус, Олена Анатоліївна; Проценко, Іван Юхимович; Чорноус, Анатолій Миколайович; Белоус, Елена Анатольевна; Bilous, Olena Anatoliivna; Chornous, Anatolii Mykolaiovych; Чорноус, Анатолий Николаевич; Проценко, Иван Ефимович; Protsenko, Ivan YukhymovychУ роботі встановлено закономірності внутрішнього ефекту в електрофізичних властивостях металевих матеріалів (плівки товщиною до 400-600 нм та дроти) з Cu, Ni та Мо, які мають різний ступень дисперсності кристалітів у інтервалі проміжних температур. Розрахунок параметрів електропереносу проводився на основі лінеаризованої, ізотропної моделей Тельє-Тоссе-Пішара, моделі Ухлінова-Косаківської, та асимптотичних співвідношень теорії Майядаса-Шатцкеса. Для обробки даних експерименту у дротах були використані формули Дінгла, Нордгейма та Ухлінова-Косаківської. Проведено порівняння та узагальнення отриманих результатів.Показано, що величина коефіцієнта розсіювання на межі зерна та СДВП визначаються ступенем дисперсності кристалітів. // Русск. версия: В работе установлены закономерности внутреннего эффекта в электрофизических свойствах металлических материалов (пленки толщиной до 400-600 нм и провода) с Cu, Ni и Мо, которые имеют разную степень дисперсности кристаллитов в интервале промежуточных температур. Расчет параметров электропереноса проводился на основе линеаризованной, изотропной моделей Телье-Тосса-Пишара, модели Ухлинова-Косаковской, и асимптотических соотношений теории Майядаса-Шатцкеса. Для обработки данных эксперимента в проводах были использованы формулы Дингла, Нордгейма и Ухлинова-Косаковской. Проведено сравнение и обобщение полученных результатов. Показано, что величина коэффициента рассеяния на границе зерна и СГПП определяются степенью дисперсности кристаллитов. При цитировании документа, используйте ссылку http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/820Item Електрофізичні властивості двошарових плівок на основі Co, Cr, Ni в умовах взаємної дифузії атомів(Ужгородський університет, 2001) Проценко, Іван Юхимович; Чорноус, Анатолій Миколайович; Шпетний, Ігор Олександрович; Чорноус, Анатолий Николаевич; Chornous, Anatolii Mykolaiovych; Шпетный, Игорь Александрович; Shpetnyi, Ihor Oleksandrovych; Protsenko, Ivan Yukhymovych; Проценко, Иван ЕфимовичДосліджено електрофізичні властивості двошарових плівок на основі Сг і Co, Ni і Co, Ni і Сг. Отримані експериментальні розмірні залежності температурного коефіцієнта опору (ТКО) було порівняно з розрахунковими на основі мікроскопічної та макроскопічної теоретичних моделей. Аналіз показав, що різниця між експериментальними та розрахунковими значеннями ТКО пов`язана з взаємною дифузією атомів із одного шару в інший та, у деяких випадках, утворенням проміжного шару. // Русск. версия: Исследованы электрофизические свойства двухслойных пленок на основе Сг и Co, Ni и Co, Ni и Сг. Полученные экспериментальные размерные зависимости температурного коэффициента сопротивления (ТКС) были сравнены с расчетными на основе микроскопической и макроскопической теоретических моделей. Анализ показал, что разница между экспериментальными и расчетными значениями ТКО связана с взаимной диффузией атомов из одного слоя в другой и, в некоторых случаях, образованием промежуточного слоя. При цитировании документа, используйте ссылку http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/724Item Conductivity and temperature coefficient of resistance of multilayered polycrystalline films(WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim, 2006) Chornous, Anatolii Mykolaiovych; Dehtiaruk, Leonid Vasylovych; Marszalek, M.; Protsenko, Ivan Yukhymovych; Чорноус, Анатолій Миколайович; Чорноус, Анатолий Николаевич; Дехтярук, Леонід Васильович; Дехтярук, Леонид Васильевич; Проценко, Іван Юхимович; Проценко, Иван ЕфимовичWe calculate the electric conductivity and the temperature coefficient of resistance (TCR) of a multilayered film consisting of the alternating polycrystalline metal layers of different thickness and purity within the relaxation time formalism. In the case of Cr, Cu and Co-based multilayered films we perform verification of our analytical formulas and demonstrate a qualitative agreement between the theoretically calculated values of the TCR and experiment. When you are citing the document, use the following link http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/707Item Electrophysical properties of double-layer nickel-base and vanadium-base films within the intermediate temperature range(WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim, 2004) Chornous, Anatolii Mykolaiovych; Protsenko, Ivan Yukhymovych; Shpetnyi, Ihor Oleksandrovych; Чорноус, Анатолій Миколайович; Чорноус, Анатолий Николаевич; Проценко, Іван Юхимович; Проценко, Иван Ефимович; Шпетний, Ігор Олександрович; Шпетный, Игорь Александрович