Факультет електроніки та інформаційних технологій (ЕлІТ)
Permanent URI for this communityhttps://devessuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/20
Browse
8 results
Search Results
Item Electroconductivity and tensosensibility of multilayer films(1998) Protsenko, Ivan Yukhymovych; Odnodvorets, Larysa Valentynivna; Chornous, Anatolii Mykolaiovych; Проценко, Іван Юхимович; Проценко, Иван Ефимович; Однодворець, Лариса Валентинівна; Однодворец, Лариса Валентиновна; Чорноус, Анатолій Миколайович; Чорноус, Анатолий НиколаевичThe experimental-research results for a size effect on the thermal coefficient of resistance (TCR) and coefficient of longitudinal-strain sensitivity (CS) of two-layer and multilayer structures based on Cr, Co, Ni, and Mo are discussed. The results obtained are in satisfactory agreement with microscopic and macroscopic theoretical models. The diagrams in the co-ordinates "TCR—thickness" and "CS—thickness" are plotted. When you are citing the document, use the following link http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/1013Item Тензорезистивный эффект в тонких пленках Cr, Ni, Cr/Ni и Ge(1996) Проценко, Иван Ефимович; Однодворец, Лариса Валентиновна; Чорноус, Анатолий Николаевич; Однодворець, Лариса Валентинівна; Odnodvorets, Larysa Valentynivna; Chornous, Anatolii Mykolaiovych; Чорноус, Анатолій Миколайович; Проценко, Іван Юхимович; Protsenko, Ivan YukhymovychИзучен тензорезистивный эффект в поликристаллических (Cr, Ni, Cr/Ni), аморфных и высокодисперсных (Ge) пленках в условиях деформации на растяжение и сжатие. Симметричный характер деформационной зависимости для исследованных пленок можно объяснить в терминах изменения концентрации носителей электрического тока (в случае Cr, Ni, Cr/Ni и a-Ge) и ширины запрещенной зоны (в случае a-Ge). // Укр. версія: Вивчено тензорезистивний ефект в полікристалічних (Cr, Ni, Cr/Ni), аморфних та високодисперсних (Ge) плівках в умовах деформації на розтяг і стиснення. Симетричний характер деформаційної залежності для досліджених плівок можна пояснити зміною концентрації носіїв електричного струму (у випадку Cr, Ni, Cr/Ni та a-Ge) та ширини забороненої зони (у випадку a-Ge). При цитировании документа, используйте ссылку http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/1004Item Тензочувствительность многослойных металлических пленок(Украинское вакуумное общество, 1996) Однодворец, Лариса Валентиновна; Проценко, Иван Ефимович; Чорноус, Анатолий Николаевич; Odnodvorets, Larysa Valentynivna; Однодворець, Лариса Валентинівна; Chornous, Anatolii Mykolaiovych; Чорноус, Анатолій Миколайович; Проценко, Іван Юхимович; Protsenko, Ivan YukhymovychItem Розмірні ефекти в електричних властивостях тонких плівок титану(Украинское вакуумное общество, 1997) Шовкопляс, О.В.; Чорноус, Анатолій Миколайович; Ласюченко, Олена Борисівна; Проценко, Іван Юхимович; Ласюченко, Елена Борисовна; Lasiuchenko, Olena Borysivna; Чорноус, Анатолий Николаевич; Chornous, Anatolii Mykolaiovych; Проценко, Иван Ефимович; Protsenko, Ivan YukhymovychItem Исследование электрофизических свойств двухслойных пленочных систем на основе титана, кобальта и никеля(ННЦ "ХФТИ", 1998) Проценко, Иван Ефимович; Чорноус, Анатолий Николаевич; Шовкопляс, О.В.; Чорноус, Анатолій Миколайович; Chornous, Anatolii Mykolaiovych; Проценко, Іван Юхимович; Protsenko, Ivan YukhymovychItem Сhemical and structure transition in metallic films under influence of electrons(Technical University of Lublin, 1997) Чорноус, Анатолій Миколайович; Чорноус, Анатолий Николаевич; Chornous, Anatolii Mykolaiovych; Шовкопляс, Оксана Анатоліївна; Шовкопляс, Оксана Анатольевна; Shovkoplias, Oksana Anatoliivna; Овчаренко, Юрій Михайлович; Овчаренко, Юрий Михайлович; Ovcharenko, Yurii Mykhailovych; Проценко, Іван Юхимович; Проценко, Иван Ефимович; Protsenko, Ivan YukhymovychResults of investigation of structure and chemical transition in films Sc, Y and Cr at thermal annealing in vacuum chamber and when heating the films with an electron beam directly and microscope are performed. Was received, what chemical composition of films at prolonged annealing was the same as and at annealing an electron beam. We draw a conclusion that Sc203 is formed from metastable Sc, which is not observed in massive Sc. When you are citing the document, use the following link http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/840Item Апробація трьохвимірної моделі тензочутливості металевих плівок(ННЦ "ХФТИ", 1998) Проценко, Іван Юхимович; Опанасюк, Надія Миколаївна; Чорноус, Анатолій Миколайович; Опанасюк, Надежда Николаевна; Opanasiuk, Nadiia Mykolaivna; Chornous, Anatolii Mykolaiovych; Чорноус, Анатолий Николаевич; Проценко, Иван Ефимович; Protsenko, Ivan YukhymovychНа прикладі топких плівок Cr та Cu проведена апробація трьохвимірної моделі тензочутливості Ц.Тельс, Л.Тоссз, Ц.Пішара. Одержано, що експериментальні результати з тензочутливості узгоджуються з розрахунковими лише при допущенні про розмірну залежність деформаційного коефіцієнта середньої довжини вільного пробігу електронів. // На примере топких пленок Cr и Cu проведена апробация трехмерной модели тензочут-ливости Ц. Тельс, Л. Тоссз, Ц. Пишара. Получено, что экспериментальные результаты с тензочувствительности согласуются с расчетными лишь при допущении о размерной зависимости деформационного коэффициента средней длины свободного пробега электронов. При цитировании документа, используйте ссылку http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/778Item Contribution of the grain-boundary and surface scattering of conductivity electrons to the size effect of tensosensibility(Institute for Single Crystals, 1999) Lasiuchenko, Olena Borysivna; Protsenko, Ivan Yukhymovych; Chornous, Anatolii Mykolaiovych; Ласюченко, Олена Борисівна; Ласюченко, Елена Борисовна; Проценко, Іван Юхимович; Проценко, Иван Ефимович; Чорноус, Анатолій Миколайович; Чорноус, Анатолий НиколаевичTheoretical relations have been obtained allowing to estimate the contribution of volume, surface and grain boundary scattering electrons of conductivity to the longitudinal tensosensibility coefficient of metal films. These contributions can be additively presented as у = C1Y0l + C2Ygbl + C3ydl where C1-C3 are the statistical weights of individual components. The relationships derived have been proven taking Cr, Co, Ni and Cu thin films as examples. When you are citing the document, use the following link http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/709