Факультет електроніки та інформаційних технологій (ЕлІТ)
Permanent URI for this communityhttps://devessuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/20
Browse
Search Results
Item Модернізація цифрової системи виведення та аналізу зображень для просвічуючого електронного мікроскопа ПЕМ-125к(Сумський державний університет, 2024) Довбиш, О.В.Актуальність теми: Модернізація цифрової системи виведення та аналізу зображень для просвічуючого електронного мікроскопа ПЕМ-125К полягає в необхідності підвищення точності та швидкості досліджень на сучасному рівні. Модернізація дозволить забезпечити більш високу роздільну здатність та якість зображень, автоматизувати процес обробки даних, знизити вплив людського фактора та розширити можливості аналізу зразків. Це сприятиме ефективнішому проведенню наукових досліджень, розвитку нанотехнологій та матеріалознавства. Мета кваліфікаційної роботи полягає в удосконаленні функціональності мікроскопа для забезпечення більш високої якості зображень і точності аналізу. Методи: Під час виконання роботи використовували методи цифрової мікроскопії, аналізу зображень, калібрування, методи автоматизації та методи статистичного аналізу. Прилади, які застосовувалися, включали просвічуючий електронний мікроскоп ПЕМ-125К, цифрову камеру високої роздільної здатності, комп'ютер із спеціалізованим програмним забезпеченням для обробки та аналізу зображень, калібрувальні сітки та стандарти для перевірки точності системи, а також програмне забезпечення для аналізу зображень, наприклад, ImageJ або інші спеціалізовані програми для обробки мікроскопічних зображень. Це забезпечило комплексний підхід до модернізації цифрової системи виведення та аналізу зображень, що дозволило досягти поставлених цілей.Item Дослідження енергетичних рівнів напівпровідників метод ІЧ спектроскопії(Сумський державний університет, 2024) Мальований, М.О.Сьогодні напівпровідники займають ключове місце у розвитку сучасних технологій, зокрема в електроніці, фотоніці та сонячній енергетиці. Вивчення енергетичних рівнів напівпровідників дозволяє краще розуміти їх електронні властивості, що є критично важливим для створення ефективних електронних та оптичних приладів. Інфрачервона (ІЧ) спектроскопія є одним із найпотужніших методів дослідження структури та властивостей напівпровідників, оскільки дозволяє визначати енергетичні рівні, виявляти домішки та дефекти в матеріалі. Об’єкт дослідження – Інфрачервона спектроскопія Предмет дослідження – Інфрачервоні спектри оксидів металів. Мета роботи: Дослідження енергетичних рівнів напівпровідників методом інфрачервоної спектроскопії для визначення їх електронних властивостей та аналіз отриманих спектрів.