Анализ элементного состава пленок CZTSе методом PIXE и m-PIXE
No Thumbnail Available
Date
2012
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Московский государственный университет им М.В. Ломоносова
Theses
Date of Defense
Scientific Director
Speciality
Date of Presentation
Abstract
В этой работе в результате исследований элементного состава пленок CZTSe построены карты распределения элементов входящих в состав соединения по площади поверхности, а также определен элементный состав пленок в зависимости от режимов получения образцов.
При цитировании документа, используйте ссылку http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/34063
Keywords
пленки Cu2ZnSnSe4, поглащающие слои, элементный состав, карты распределения
Citation
Анализ элементного состава пленок CZTSе методом PIXE и m-PIXE [Текст] / А.С. Опанасюк, П.В. Коваль, Д.В. Магилин [и др.] // Тезисы докладов ХLIII международной Тулиновской конференции по физике взаимодействия заряженных частиц с кристаллами / Под ред. проф. М.И. Панасюка. – М.: Изд-во Московского университета, 2013. – C. 103.