Електропровідність тришарових полікристалічних плівок Co/Ag(Cu)/Fe в умовах взаємодифузії атомів
No Thumbnail Available
Date
2014
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Сумський державний університет
Article
Date of Defense
Scientific Director
Speciality
Date of Presentation
Abstract
В роботі представлені результати експериментальних досліджень кристалічної структури і елект-
роопору в тришарових нанокристалічних плівках Co / Ag / Fe та Co / Cu / Fe. Показано, що всі відпа-
лені за температури 700 К зразки з dCu,Ag > 5 нм є трифазними (ГЦК-Со, ГЦК-Ag або ГЦК-Cu,
ОЦК-Fe). Експериментально отримана залежність питомого електроопору плівок від товщини немаг-
нітного прошарку.
При цитуванні документа, використовуйте посилання http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/34464
В работе представлены результаты экспериментальных исследований кристаллической структуры и электросопротивления в трехслойных нанокристаллических пленках Co / Ag / Fe и Co / Cu / Fe. Показано, что все отожженные при 700 К образцы пленок с dCu,Ag > 5 нм являются трехфазными (ГЦК-Со, ГЦК-Ag, ГЦК-Cu, соответственно, и ОЦК-Fe). Экспериментально получена зависимость удельного электросопротив- ления трехслойных пленок от толщины прослойки. Показано, что указанная зависимость носит немоно- тонный характер, что обусловлено диффузным характером взаимодействия электронов с интерфейсами проводника. При цитировании документа, используйте ссылку http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/34464
The paper presents results of experimental studies of crystal structure and electrical resistivity in the threelayer Co / Ag / Fe and Co / Cu / Fe nanocrystalline films and. It has been shown that all the samples, annealed at 700 K with dCu,Ag > 5 nm, are three-phase (FCC-Co, FCC-Ag, FCC-Cu, respectively, and BCC-Fe). The dependence of the three-layer films resistivity on the layer thickness has been obtained experimentally. It has been detected that the above-mentioned dependence is nonmonotonic, which is conditioned by the diffuse nature of the interaction of electrons with interfaces of the conductor. When you are citing the document, use the following link http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/34464
В работе представлены результаты экспериментальных исследований кристаллической структуры и электросопротивления в трехслойных нанокристаллических пленках Co / Ag / Fe и Co / Cu / Fe. Показано, что все отожженные при 700 К образцы пленок с dCu,Ag > 5 нм являются трехфазными (ГЦК-Со, ГЦК-Ag, ГЦК-Cu, соответственно, и ОЦК-Fe). Экспериментально получена зависимость удельного электросопротив- ления трехслойных пленок от толщины прослойки. Показано, что указанная зависимость носит немоно- тонный характер, что обусловлено диффузным характером взаимодействия электронов с интерфейсами проводника. При цитировании документа, используйте ссылку http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/34464
The paper presents results of experimental studies of crystal structure and electrical resistivity in the threelayer Co / Ag / Fe and Co / Cu / Fe nanocrystalline films and. It has been shown that all the samples, annealed at 700 K with dCu,Ag > 5 nm, are three-phase (FCC-Co, FCC-Ag, FCC-Cu, respectively, and BCC-Fe). The dependence of the three-layer films resistivity on the layer thickness has been obtained experimentally. It has been detected that the above-mentioned dependence is nonmonotonic, which is conditioned by the diffuse nature of the interaction of electrons with interfaces of the conductor. When you are citing the document, use the following link http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/34464
Keywords
Кристалічна структура, Фазовий склад, Взаємна дифузія, Дифузійний профіль, Питомий електроопір, Термічний коефіцієнт опору, Інтерфейс, Кристаллическая структура, Фазовый состав, Взаимная диффузия, Диффузионный профиль, Удельное электросопротивление, Термический коэффициент сопротивления, Интерфейс, Crystal structure, Phase composition, Interdiffusion, Diffusive type, Resistivity, Thermal coefficient of resistance, Interface
Citation
В.Б. Лобода, В.М. Коломієць, С.М. Хурсенко, Ю.О. Шкурдода, Ж. Нано- електрон. фіз. 6 № 1, 04032 (2014