Electroconductivity and tensosensibility of multilayer films

dc.contributor.authorProtsenko, Ivan Yukhymovych
dc.contributor.authorOdnodvorets, Larysa Valentynivna
dc.contributor.authorChornous, Anatolii Mykolaiovych
dc.contributor.authorПроценко, Іван Юхимович
dc.contributor.authorПроценко, Иван Ефимович
dc.contributor.authorОднодворець, Лариса Валентинівна
dc.contributor.authorОднодворец, Лариса Валентиновна
dc.contributor.authorЧорноус, Анатолій Миколайович
dc.contributor.authorЧорноус, Анатолий Николаевич
dc.date.accessioned2010-12-22T07:18:43Z
dc.date.available2010-12-22T07:18:43Z
dc.date.issued1998
dc.descriptionНаведено результати експериментальних досліджень розмірного ефекту термічного коефіцієнта опору (ТКО) та коефіцієнта тензочутлитості (КТ) двох- та багатошарових плівкових структур на основі Cr, Co, Nі та Мо, обробку яких проведено в рамках мікроскопічної та макроскопічної моделей. Побудовано діаграми в координатах «ТКО—товщина» та «КТ—товщина». // Русск. версия: Приведены результаты экспериментальных исследований размерного эффекта термического коэффициента сопротивления и коэффициента тензочувствительности двух- и многослойных пленочных структур на основе Cr, Со, Ni и Мо, обработка которых была проведена в рамках микро- и макроскопической моделей. Построены диаграммы в координатах «ТКС—толщина» и «КТ—толщина».ru_RU
dc.description.abstractThe experimental-research results for a size effect on the thermal coefficient of resistance (TCR) and coefficient of longitudinal-strain sensitivity (CS) of two-layer and multilayer structures based on Cr, Co, Ni, and Mo are discussed. The results obtained are in satisfactory agreement with microscopic and macroscopic theoretical models. The diagrams in the co-ordinates "TCR—thickness" and "CS—thickness" are plotted. When you are citing the document, use the following link http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/1013ru_RU
dc.identifier.citationProtsenko, I.Yu. Electroconductivity and tensosensibility of multilayer films [Text] / I.Yu. Protsenko, L.V. Odnodvorets, A.M. Chornous // Металлофизика и новейшие технологии. - 1998. - Т. 20, № 1. - С. 36-43.ru_RU
dc.identifier.sici0000-0003-3351-9303en
dc.identifier.urihttp://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/1013
dc.language.isoenru_RU
dc.rights.uricneen_US
dc.subjectmultilayer film`s structureru_RU
dc.subjectelectrophysical propertiesru_RU
dc.subjectthermal coefficient of resistanceru_RU
dc.subjectбагатошарова плівкова структураru_RU
dc.subjectелектрофізичні властивостіru_RU
dc.subjectтемпературний коефіцієнт опоруru_RU
dc.subjectмногослойная пленочная структураru_RU
dc.subjectэлектрофизические свойстваru_RU
dc.subjectтемпературный коэффициент сопротивленияru_RU
dc.titleElectroconductivity and tensosensibility of multilayer filmsru_RU
dc.typeArticleru_RU

Files

Original bundle

Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
1684.pdf
Size:
1.43 MB
Format:
Adobe Portable Document Format

License bundle

Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
license.txt
Size:
4.34 KB
Format:
Item-specific license agreed upon to submission
Description: