Численный анализ экранирующих свойств дифракционной решетки при возбуждении электронным потоком излучения на метало-диэлектрических структурах
No Thumbnail Available
Date
1997
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
МАИК "НАУКА"
Article
Date of Defense
Scientific Director
Speciality
Date of Presentation
Abstract
В работе проведен численный анализ плотности энергии дифракционного излучения, возбуждаемого при движении электронного потока вдоль периодической метало-диэлектрической структуры. В отличие от ранее полученного длинноволнового приближения, данный подход позволяет изучить экранирующие свойства дифракционной решетки в более широком интервале изменения параметров исследуемой системы. Результаты численного анализа сравниваются с результатами экспериментального моделирования.
При цитировании документа, используйте ссылку http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/16430
Keywords
энергия дифракционного излучения, электронный поток
Citation
Воробьев, Г.С. Численный анализ экранирующих свойств дифракционной решетки при возбуждении электронным потоком излучения на метало-диэлектрических структурах [Текст] / Г.С. Воробьев, К.А. Пушкарев, А.И. Цвык // Радиотехника и электроника. — 1997. — том 42. — №6. — с. 738-740