Применение новых тест-объектов для юстировки растрового электронного микроскопа

dc.contributor.authorСоколов, Сергей Викторович
dc.contributor.authorСоколов, Сергій Вікторович
dc.contributor.authorSokolov, Serhii Viktorovych
dc.contributor.authorДовгошея, Д.А.
dc.date.accessioned2011-03-18T12:37:07Z
dc.date.available2011-03-18T12:37:07Z
dc.date.issued2009
dc.description.abstractЦелью данной работы является исследование тест-объекта для определения разрешающей способности растрового электронного микроскопа за счет формирования его структуры в виде участков ажурной микросетки и сплошной пленки с нанесенными на них равномерно расположенными шарообразными частицами олова, которые отличаются от других тем, что полученная структура имеет размеры от 10 мкм до 2 нм и структурные элементы с высоким контрастом из-за различных эмиссионных свойств применяемых материалов и условий формирования изображения, что позволяет определить разрешающую способность в диапазоне увеличений от 500 до 100000 крат. Наличие шаров также позволяет контролировать правильность построения изображения в направлении строки и кадра, исключает необходимость корректировки масштабных искажений изображения при наклоне образца. Таким образом получаем островковые сферические частицы олова, закрепленных на угольной микросетке с размером ячеек от 0,2 мкм до 10 мкм. При цитировании документа, используйте ссылку http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/3960
dc.identifier.citationСоколов, С.В. Применение новых тест-объектов для юстировки растрового электронного микроскопа [Текст] / С.В. Соколов, Д.А. Довгошея // Матеріали та програма науково-технічної конференції викладачів, співробітників, аспірантів і студентів факультету електроніки та інформаційних технологій : 21-24 квітня 2009 р. - Суми : СумДУ, 2009. - С. 43.ru_RU
dc.identifier.sici0000-0001-8707-4616en
dc.identifier.urihttp://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/3960
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherИзд-во СумДУru_RU
dc.rights.uricneen_US
dc.subjectэлектронный микроскопru_RU
dc.subjectнанообъектru_RU
dc.subjectелектронний мікроскопru_RU
dc.subjectнанооб`єктru_RU
dc.subjectelectron microscoperu_RU
dc.subjectnanoobjectru_RU
dc.titleПрименение новых тест-объектов для юстировки растрового электронного микроскопаru_RU
dc.typeThesesru_RU

Files

Original bundle

Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
ElIT_2009.pdf
Size:
3.47 MB
Format:
Adobe Portable Document Format

License bundle

Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
license.txt
Size:
4.35 KB
Format:
Item-specific license agreed upon to submission
Description: