Применение новых тест-объектов для юстировки растрового электронного микроскопа
dc.contributor.author | Соколов, Сергей Викторович | |
dc.contributor.author | Соколов, Сергій Вікторович | |
dc.contributor.author | Sokolov, Serhii Viktorovych | |
dc.contributor.author | Довгошея, Д.А. | |
dc.date.accessioned | 2011-03-18T12:37:07Z | |
dc.date.available | 2011-03-18T12:37:07Z | |
dc.date.issued | 2009 | |
dc.description.abstract | Целью данной работы является исследование тест-объекта для определения разрешающей способности растрового электронного микроскопа за счет формирования его структуры в виде участков ажурной микросетки и сплошной пленки с нанесенными на них равномерно расположенными шарообразными частицами олова, которые отличаются от других тем, что полученная структура имеет размеры от 10 мкм до 2 нм и структурные элементы с высоким контрастом из-за различных эмиссионных свойств применяемых материалов и условий формирования изображения, что позволяет определить разрешающую способность в диапазоне увеличений от 500 до 100000 крат. Наличие шаров также позволяет контролировать правильность построения изображения в направлении строки и кадра, исключает необходимость корректировки масштабных искажений изображения при наклоне образца. Таким образом получаем островковые сферические частицы олова, закрепленных на угольной микросетке с размером ячеек от 0,2 мкм до 10 мкм. При цитировании документа, используйте ссылку http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/3960 | |
dc.identifier.citation | Соколов, С.В. Применение новых тест-объектов для юстировки растрового электронного микроскопа [Текст] / С.В. Соколов, Д.А. Довгошея // Матеріали та програма науково-технічної конференції викладачів, співробітників, аспірантів і студентів факультету електроніки та інформаційних технологій : 21-24 квітня 2009 р. - Суми : СумДУ, 2009. - С. 43. | ru_RU |
dc.identifier.sici | 0000-0001-8707-4616 | en |
dc.identifier.uri | http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/3960 | |
dc.language.iso | ru | ru_RU |
dc.publisher | Изд-во СумДУ | ru_RU |
dc.rights.uri | cne | en_US |
dc.subject | электронный микроскоп | ru_RU |
dc.subject | нанообъект | ru_RU |
dc.subject | електронний мікроскоп | ru_RU |
dc.subject | нанооб`єкт | ru_RU |
dc.subject | electron microscope | ru_RU |
dc.subject | nanoobject | ru_RU |
dc.title | Применение новых тест-объектов для юстировки растрового электронного микроскопа | ru_RU |
dc.type | Theses | ru_RU |