Отримання й обробка даних механічних випробувань наноматеріалів шляхом віддаленого доступу до обладнання
| dc.contributor.author | Шовкопляс, Оксана Анатоліївна | |
| dc.contributor.author | Шовкопляс, Оксана Анатольевна | |
| dc.contributor.author | Shovkoplias, Oksana Anatoliivna | |
| dc.contributor.author | Соболь, О.В. | |
| dc.contributor.author | Береснєв, В.М. | |
| dc.date.accessioned | 2014-12-09T12:16:34Z | |
| dc.date.available | 2014-12-09T12:16:34Z | |
| dc.date.issued | 2014 | |
| dc.description.abstract | Використання функціонала комплексу для механічних випробувань шляхом віддаленого доступу до ресурсів скретч-тестора REVETEST (БєлДУ) дозволило отримати та обробити експериментальні дані для покриттів квазібінарних карбідних і боридних систем у наноструктурному стані. | ru_RU |
| dc.identifier.citation | Шовкопляс, О.А. Отримання й обробка даних механічних випробувань наноматеріалів шляхом віддаленого доступу до обладнання [Текс] / О.А. Шовкопляс, О.В. Соболь, В.М. Береснєв // Електронні засоби та дистанційні технології для навчання протягом життя : тези доповідей X Міжнародної науково-методичної конференції, м. Суми, 13–14 листопада 2014 р. – Суми : Сумський державний університет, 2014. – С. 122-123. | ru_RU |
| dc.identifier.sici | 0000-0002-4596-2524 | en |
| dc.identifier.uri | http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/38076 | |
| dc.language.iso | uk | ru_RU |
| dc.publisher | Сумський державний університет | ru_RU |
| dc.rights.uri | cne | en_US |
| dc.subject | наноматеріали | ru_RU |
| dc.subject | наноматериалы | ru_RU |
| dc.subject | nanomaterials | ru_RU |
| dc.title | Отримання й обробка даних механічних випробувань наноматеріалів шляхом віддаленого доступу до обладнання | ru_RU |
| dc.type | Theses | ru_RU |
Files
Original bundle
1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
- Name:
- Shovkoplyas_Sobol_Beresnyev.pdf
- Size:
- 262.92 KB
- Format:
- Adobe Portable Document Format
- Description:
License bundle
1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
- Name:
- license.txt
- Size:
- 7.79 KB
- Format:
- Item-specific license agreed upon to submission
- Description: