Розрахунок реальних розмірів наночастинок за АСМ зображеннями та моделювання їх магнітооптичних властивостей

Abstract

В роботі описані геометричні та наведені результати розрахунку реальних розмірів наночастинок Ni і Co за даними атомно-силової мікроскопії, які були отримані методом термічного диспергування тонких металевих плівок на аморфних Si3N4 / Si. Результати розрахунків були використані при моделюванні магнітооптичних властивостей масивів НЧ. Показано, що оброблені за описаними в роботі співвідношеннями моделі масивів НЧ дозволяють отримати добре співпадіння між розрахунковими та отриманими експериментально методом МОКЕ даними. При цитуванні документа, використовуйте посилання http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/35649

В работе описаны геометрические модели и приведены результаты расчета реальных размеров НЧ Ni и Co на аморфных Si3N4 / Si подложках, полученых методом термодиспергирования тонких ме- таллических пленок, по данным атомно-силовой микроскопии. Результаты расчетов были использо- ваны при моделировании магнито-оптических свойств массивов НЧ. Показано, что обработанные по описанным в работе соотношениям модели массивов НЧ позволяют получить хорошее совпадение между расчетными и полученными экспериментально методом МОКЕ данными. При цитировании документа, используйте ссылку http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/35649

This paper describes the geometric models and presents the calculation results of the actual sizes of Ni and Co nanoparticles on the amorphous Si3N4 / Si substrates obtained by thermal annealing of thin metal films using the data of atomic force microscopy. Results were used in the simulation of magneto-optical properties of arrays of nanoparticles. It is shown that processed by described in the paper equations models allow to obtain a good agreement between calculated and experimentally obtained by MOKE method data. When you are citing the document, use the following link http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/35649