Топологічні особливості парофазних наноструктур SnTe на поліаміді

dc.contributor.authorСалій, Я.П.
dc.contributor.authorЧав’як, І.І.
dc.contributor.authorБиліна, І.С.
dc.contributor.authorФреїк, Д.М.
dc.date.accessioned2015-01-20T13:30:42Z
dc.date.available2015-01-20T13:30:42Z
dc.date.issued2014
dc.description.abstractНаведено результати дослідження наноструктур на поверхні тонких плівок станум телуриду, осаджених з парової фази на підкладках поліаміду методом відкритого випаровування у вакуумі. Комп’ютерний аналіз результатів атомно-силової мікроскопії виявив вплив технологічних факторів на особливості форм та поверхневої орієнтації наноострівців. Показано, що наноструктури різного розміру є куполоподібними з малим відношенням їх висоти до латерального діаметру. Встановлено слабку залежність симетрії острівців від технологічних факторів осадження.ru_RU
dc.description.abstractПриведены результаты исследования наноструктур на поверхности тонких пленок теллурида олова, осажденных из паровой фазы на подложках полиамида методом открытого испарения в вакууме. Компьютерный анализ результатов атомно-силовой микроскопии выявил влияние технологических факторов на особенности форм и поверхностной ориентации наноостровков. Показано, что наноструктуры различного размера являются куполообразными с малым отношением их высоты к латеральному диаметра. Установлено слабую зависимость симметрии островков от технологических факторов осаждения.ru_RU
dc.description.abstractThe results of the study of nanostructures on the surface of tin telluride thin films deposited from the vapor phase on polyamide substrates by open evaporation in vacuum are presented. Computer analysis of the results of the atomic force microscopy has revealed the influence of the technological factors on the shape features and surface orientation of nanoislands. It is shown that nanostructures of various sizes are dome-shaped with a small ratio of height to lateral diameter. A weak dependence of the island symmetry on the technological factors of deposition is found.ru_RU
dc.identifier.citationЯ.П. Салій, І.І. Чав’як, І.С. Биліна, Д.М. Фреїк, Ж. нано- електрон. фіз. 6 № 4, 04020 (2014)ru_RU
dc.identifier.urihttp://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/38458
dc.language.isoukru_RU
dc.publisherСумський державний університетru_RU
dc.rights.uricneen_US
dc.subjectСтанум телуридru_RU
dc.subjectНаноструктуриru_RU
dc.subjectПарофазні технологіїru_RU
dc.subjectАтомно-силова мікроскопіяru_RU
dc.subjectПроцеси ростуru_RU
dc.subjectТеллурид оловаru_RU
dc.subjectНаноструктурыru_RU
dc.subjectПарофазные технологииru_RU
dc.subjectАтомно-силовая микроскопияru_RU
dc.subjectПроцессы ростаru_RU
dc.subjectTin telluridru_RU
dc.subjectNanostructuresru_RU
dc.subjectVapor-phase technologyru_RU
dc.subjectAtomic force microscopyru_RU
dc.subjectGrowth processesru_RU
dc.titleТопологічні особливості парофазних наноструктур SnTe на поліамідіru_RU
dc.title.alternativeТопологические особенности парофазных наноструктур SnTe на полиамидеru_RU
dc.title.alternativeTopological Features of the Vapor-Phase SnTe Nanostructures on Polyamideru_RU
dc.typeArticleru_RU

Files

Original bundle

Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
Saliy_Chaviak_ Bylina_Freik.pdf
Size:
719.63 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:

License bundle

Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
license.txt
Size:
7.79 KB
Format:
Item-specific license agreed upon to submission
Description: