Автоматизований комплекс для нанометричних досліджень

Бондаренко, М.О.; Бондаренко, Ю.Ю.

Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/46227

Використовуйте наступні посилання для розповсюдження матеріалу в соціальних мережах: Рекомендувати цей матеріал

Назва	Автоматизований комплекс для нанометричних досліджень
Автори	Бондаренко, М.О. Бондаренко, Ю.Ю.
ORCID
Ключові слова	нанометричні дослідження нанометрические исследования nanometric research
Вид документа	Тези доповідей
Дати випуску	2016
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу)	http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/46227
Видавець	Сумський державний університет
Ліцензія	Copyright не зазначено
Бібліографічний опис	Бондаренко, М.О. Автоматизований комплекс для нанометричних досліджень [Текст] / М.О. Бондаренко, Ю.Ю. Бондаренко // Фізика, електроніка, електротехніка: матеріали та програма науково-технічної конференції, м. Суми, 18-22 квітня 2016 р. / Відп. за вип. С.І. Проценко. - Суми: СумДУ, 2016. - С. 200.
Короткий огляд (реферат)	Задля підвищення швидкодії і точності проведення досліджень за допомогою атомно-силового мікроскопу (АСМ), авторами запропоновано провести автоматизацію дослідницького обладнання, задля усунення зовнішнього впливу на процес діагностування з боку оператора. Для цього запропонований і технічно реалізований автоматизований комплекс для нанометричних досліджень.
Розташовується у зібраннях:	Наукові видання (ЕлІТ)